کتاب زبان اصلی Secondary Ion Mass Spectrometry اثر Paul Van der Heide کتاب طیف سنجی جرمی یون های ثانویه مقدمه ای بر اصول و کاربردها Secondary Ion Mass Spectrometry An Introduction to Principles and Practices تالیف پل ون در هاید در سال 2014 منتشر شده است این کتاب به بررسی اصول قابلیت ها و کاربردهای طیف سنجی جرمی یون های ثانویه به عنوان یک تکنیک تجزیه ای پیشرفته می پردازد مطالب شامل مبانی فیزیکی انواع روش های یون زایی آماده سازی نمونه تفسیر داده ها و کاربردهای آن در علوم مواد و زیست شناسی است این کتاب برای دانشجویان و محققان حوزه های مرتبط توصیه می شود