Un seul évènement -LRB- SEU -RRB- est un changement d'état causé par des ions ou un rayonnement électromagnétique frappant un nœud sensible dans un dispositif micro-électronique, comme dans un microprocesseur, une mémoire semi-conductrice ou des transistors de puissance.
Un seul évènement -LRB- SEU -RRB- est un changement d'état causé par des ions de faible énergie, des radiations électromagnétiques ou nucléaires ou tout autre type d'interférences pouvant atteindre -LRB- appelé 'grève' 'RRB- un nœud sensible dans un dispositif micro-électronique, comme dans un microprocesseur, une mémoire de semi-conducteurs ou des transistors de puissance.