Réflection Électron Microscope -LRB- REM -RRB- In the Reflection Electron Microscope -LRB- REM -RRB- as in the TEM, an electron beam is incident on a surface, but instead of using the transmission -LRB- TEM -RRB- or secondary electrons -LRB- SEM -RRB-, the reflected beam of elastically scattered electrons is detected.
Réflexion Microscope électronique -LRB- REM -RRB- Les électrons à haute tension sont envoyés vers le spécimen.