High Temperature Operating Life
# High Temperature Operating Life

High Temperature Operating Life (HTOL, engl.) ist ein Zuverlässigkeitstest in der Halbleiter- bzw. Mikroelektronik. Dabei werden die Halbleiterbauelemente und auch -schaltungen werden während des Testes höherer Spannung und höheren Temperatur ausgesetzt.

Manchmal wird HTOL in Begriff mit „Lifetime Test“, „Device Life Test“ oder „Extended Burn in Test“ zusammengebracht.

