title: Design for testability
text: # Design for testability
  
  Design for Testability, très approximativement traduisible par Conception pour le Test ou l'Analyse.
  
  Le terme Design for Testability (ou DfT) est un terme utilisé en conception de composants électroniques complexes (notamment microprocesseur, mémoire vive…). Celui-ci représente la prise en compte lors du développement (ou Design) de telles puces de deux facteurs:
  
  Ces considérations se transforment généralement en modes de test (auxquels on accède par une combinaison précise aux entrées ou Inputs de la puce) qui modifient le fonctionnement normal du composant.
  
  Ces modes de test ne sont, en principe, pas accessibles (car pas communiqués ou spécifiés comme ‘Ne pas utiliser’) par les utilisateurs.
  
  Un exemple typique serait de modifier le comportement d’une patte (ou Pin) de la puce pour pouvoir mesurer un voltage interne à celle-ci qui ne serait pas accessible en mode utilisateur.
  
  