There are other techniques which also have been experimented with such as the use of temperature increasing the temperature of a device as we know would cost induce faults in the device however as the experiment show injecting faults using temperature is more difficult to achieve compare to the other techniques of power glitching or clock glitching.
इतरही तंत्रे आहेत ज्यात तापमानाचा वापर करणे हे प्रयोग देखील केले गेले आहे. आपल्याला माहित आहे की डिव्हाइसचे तापमान वाढविणे हे डिव्हाइसमध्ये फॉल्ट उत्पन्न करण्यास कारणीभूत ठरते. तथापि, एक्सपेरीमेंट्स दाखवतात कि तापमानाचा वापर करून फॉल्ट्स उत्पन्न करणे हे इतर तंत्रे जसे पॉवर ग्लिचिंग किंवा क्लॉक ग्लिचिंगच्या तुलनेत अधिक कठीण आहे.