હવે, એક અવલોકન એ છે કે વર્તમાન ડીપ સબ માઇક્રોન ટેસ્ટ ટેક્નોલોજીમાં આ IDDQ ટેસ્ટનો ઉપયોગ કરવો મુશ્કેલ બની રહ્યું છે, કારણ કે ટ્રાન્ઝિસ્ટરમાં લીકેજ કરંટો હોય છે.
ഇപ്പോൾ, ഒരു നിരീക്ഷണം, ഇന്നത്തെ ഡീപ് സബ്-മൈക്രോൺ ടെസ്റ്റ് ടെക്നോളജിയിൽ, ഈ IDDQ ടെസ്റ്റിംഗ് ഉപയോഗിക്കാൻ ബുദ്ധിമുട്ടാണ്, കാരണം ട്രാൻസിസ്റ്റർ ചോർച്ച വൈദ്യുതധാരകൾ.