We looked at one of the standards the boundary scan standards and finally, built in self test technique, where we can design a circuit such that it can test itself.
આપણે સીમા સ્કેન ધોરણોમાંથી એક ધોરણ જોયું અને છેલ્લે, બિલ્ટ ઇન સેલ્ફ ટેસ્ટ ટેકનિક માં બાંધવામાં આવ્યું, જ્યાં આપણે એક સર્કિટ ડિઝાઇન કરી શકીએ કે જેથી તે પોતે ચકાસી શકે.