अब हमने यह भी कहा है कि LFSR टेस्ट पैटर्न बहुत सस्ते हैं; इस अर्थ में कि टेस्ट जनरेशन के लिए आवश्यक हार्डवेयर यदि बहुत सरल हैं, तो वे चिप की अधिकतम रेटेड फ्रीक्वेंसी पर चल सकते हैं, ताकि हम क्लॉक फ्रीक्वेंसी को उस दर पर लागू कर सकें, जो हम रेटेड क्लॉक फ्रीक्वेंसी पर पैटर्न लागू कर सकते हैं, जो कई देरी संबंधी दोषों का पता लगाने में भी मदद करता है।
LFSR சோதனை முறைகள் மிகவும் மலிவானவை என்று இப்போது நாங்கள் கூறியுள்ளோம்; டெஸ்ட் ஜெனெரெசனுக்கு தேவையான வன்பொருள் மிகவும் எளிமையானதாக இருந்தால், அவை சிப்பின் அதிகபட்ச மதிப்பிடப்பட்ட அதிர்வெண்ணில் இயங்க முடியும், இதனால் கடிகார அதிர்வெண்ணை விகிதத்தில் பயன்படுத்தலாம், மதிப்பிடப்பட்ட கடிகார அதிர்வெண்ணில் வடிவங்களைப் பயன்படுத்தலாம், இது தாமதம் தொடர்பான பல தவறுகளைக் கண்டறியவும் உதவுகிறது.