तर , IC मधील हार्डवेअर ट्रोजन्स शोधण्यासाठी पूर्वी वापरल्या जाणार् या विविध तंत्रांमध्ये प्रथम ऑप्टिकल मायक्रोस्कोपी स्कॅन करणे, इलेक्ट्रॉन मायक्रोस्कोपी स्कॅन करणे अशा तंत्रावर आधारित ऑप्टिकल तपासणी द्वारे केल्या जातात.
সুতরাং, একটি আইসিতে হার্ডওয়্যার ট্রোজান সনাক্ত করার জন্য অতীতে ব্যবহৃত বিভিন্ন কৌশলগুলি প্রথমে অপটিক্যাল পরিদর্শনের মাধ্যমে কৌশলের উপর ভিত্তি করে। যেমন অপটিক্যাল মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করা, ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি স্ক্যান করা ইত্যাদি।