So, just a small example if we have in a circuit 2000 flip flops and 500 test vectors, so test length will be approximately the product of ns and nc, this is the dominant term, so it will be about a million, So, testing will become slower no doubt and means another thing also you should remember, but we are not testing the circuit at the rated clock frequency, we are shifting in the data in the flip flop then you are applying the input and seeing the output.
അതിനാൽ, ഞങ്ങൾക്ക് ഒരു സർക്യൂട്ടിൽ 2000 ഫ്ലിപ്പ് ഫ്ലോപ്പുകളും 500 ടെസ്റ്റ് വെക്റ്ററുകളും ഉണ്ടെങ്കിൽ ഒരു ചെറിയ ഉദാഹരണം, അതിനാൽ ടെസ്റ്റ് ദൈർഘ്യം ഏകദേശം ns, nc എന്നിവയുടെ ഉൽപന്നമായിരിക്കും, ഇതാണ് പ്രബലമായ പദം, അതിനാൽ ഇത് ഏകദേശം ഒരു ദശലക്ഷം ആയിരിക്കും, അതിനാൽ, പരിശോധന മന്ദഗതിയിലാകും, നിങ്ങൾ ഓർക്കേണ്ട മറ്റൊരു കാര്യം അർത്ഥമാക്കുന്നു, എന്നാൽ റേറ്റുചെയ്ത ക്ലോക്ക് ഫ്രീക്വൻസിയിൽ ഞങ്ങൾ സർക്യൂട്ട് പരിശോധിക്കുന്നില്ല, ഞങ്ങൾ ഫ്ലിപ്പ് ഫ്ലോപ്പിലെ ഡാറ്റയിലേക്ക് മാറുന്നു, തുടർന്ന് നിങ്ങൾ ഇൻപുട്ട് പ്രയോഗിക്കുകയും ഓട്ട്പുട്ട് കാണുകയും ചെയ്യുന്നു.