अब, एक अवलोकन यह है कि वर्तमान तारीख में डीप सब माइक्रोन टेस्ट तकनीक, इस IDDQ टेस्ट का उपयोग करना मुश्किल हो रहा है, क्योंकि ट्रांजिस्टर लीकेज करंट के कारण।
ഇപ്പോൾ, ഒരു നിരീക്ഷണം, ഇന്നത്തെ ഡീപ് സബ്-മൈക്രോൺ ടെസ്റ്റ് ടെക്നോളജിയിൽ, ഈ IDDQ ടെസ്റ്റിംഗ് ഉപയോഗിക്കാൻ ബുദ്ധിമുട്ടാണ്, കാരണം ട്രാൻസിസ്റ്റർ ചോർച്ച വൈദ്യുതധാരകൾ.