Now let me tell you that the problem of test pattern generation is difficult; even for combinational circuits it can take quite significant amount of time to carry out test generation for certain faults.
ഇപ്പോൾ ഞാൻ നിങ്ങളോട് പറയാം ടെസ്റ്റ് പാറ്റേൺ ജനറേഷൻ പ്രശ്നം ബുദ്ധിമുട്ടാണ്; കോമ്പിനേഷണൽ സർക്യൂട്ടുകൾക്ക് പോലും, ചില തകരാറുകൾക്ക് ടെസ്റ്റ് ജനറേഷൻ നടത്താൻ ഗണ്യമായ സമയം എടുക്കും.