В данной статье рассматривается задача тестирования микропроцессоров, построена модель работы микропроцессора в виде детерминированного конечного автомата на графе состояний, проанализирована модель и предложены методы для уменьшения размерности полученного графа.
тестирование микропроцессора, граф состояний, конечный автомат, обход ориентированного графа