Статья относится к области системного функционального (core-level) тестирования микропроцессоров, более точно модулей управления памяти. В статье описывается метод построения тестов (тестовой программы) для нацеленной генерации. Такая генерация предполагает систематичное построение тестов специального вида. В конце приводятся результаты апробации реализации метода для тестирования модулей управления памяти микропроцессоров архитектуры MIPS64.
функциональное тестирование микропроцессоров, тестирование модулей управления памяти, микропроцессоры архитектуры mips64