В предлагаемой работе рассмотрен разработанный программный комплекс моделирования локальных радиационных эффектов от заряженных частиц космического пространства, определена концепция построения интегрированной системы оценки радиационной стойкости изделий полупроводниковой электроники, описан алгоритм программного комплекса
программный комплекс, интегрированная система, локальные радиационные эффекты