В статье предлагается компьютерная модель и описание метода использования электромагнитных волн с длиной <nobr>$0,1$</nobr>–<nobr>$1$</nobr> мм для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивным технологиям. С помощью предложенной модели демонстрируется возможность бесконтактного неразрушающего контроля качества по дифракционным картин
аддитивная технология, трехмерная печать, терагерцовое излучение, дифракционный метод, неразрушающий контроль, компьютерное моделирование, обработка изображения