Scanning Electron Microscopy SEM: An FEI Phenom 2005 scanning electron microscope was used in low vacuum mode with an accelerating voltage of 5 kV.
Microscopia electrónica de barrido SEM: Se empleó un microscopio electrónico de barrido Phenom 2005 de FEI en modo de bajo vacío y un voltaje de aceleración de 5 kV.