The coatings´ chemical composition was analysed by using a high-resolution electron scanning microscope JEOL JSM - 6490LV equipped with a light sensitive element EDX system at1 nm at 30 kV resolution.
El análisis de composición química de los recubrimientos fue hecha con un microsScopio electrónico de barrido de alta resolución JEOL JSM - 6490 LV equipado con un elemento sensitivo de luz EDX system y una resoluSción de 1 nm en 30 kV.