EDX was used for chemical analysis of these surfaces, a decrease in Cr content being observed when thickness was increased. For example, for Λ= 20 nm coatings, Cr reduction percentage regarding initial content before potentiodynamic polarisation tests was 12%, 55% and 65% for 0.2, 1 and 3 μm total thickness respectively.
Sobre estas superficies se realizó análisis químico con la sonda EDX y se observó una disminución del contenido de Cr con el aumento del espesor, por ejemplo, en las películas con Λ = 20 nm los porcentajes de reducción Cr respecto a su contenido inicial antes de las pruebas de polarización potenciodinámicas fueron de 12%, 55% y 65% para los espesores de 0,2, 1 y 3 μm, respectivamente.