Roughness was examined using atomic force microscopy AFM in contact mode with an Autoprobe CP Park Scientific Instruments with a Si3N4 Ultralever probe.
La rugosidad de las multicapas fue medida con microscopia de fuerza atómica AFM en modo de contacto, en un equipo SPM Park Scientifire Instruments modelo Auto Probe CP con sonda Ultralever de Si3N4.