Once the sample was inside the examination chamber, the SEM recorded low-magnification pictures of the cracked surface; the SEM then was made to follow an exploration pattern, to identify as much information as possible from each cracked surface.
Una vez que la muestra estuvo dentro de la cámara de observación, el SEM registró imágenes de baja magnificación de la superficie fracturada; luego, el SEM siguió un patrón de exploración con el fin de identificar la mayor cantidad de información posible de cada superficie fracturada.