Observations were made with Scanning Electron Microscope leol model 5900 LV, Tokio, Japan. Used magnifications were 500X, 1000X and 2000X.
Se hicieron las observaciones al microscopio electrónico de barrido leol modelo 5900 LV Tokio Japón con un rango de magnificación de 18X a 300,00X las magnificaciones utilizadas fueron de 500X, 1000X y 2000X.