Cr/CrN multilayer microstructure was studied by X-ray diffraction XRD using an X-PertPro panalytical system for grazing incidence and Bragg-Brentano configurations and monochromatised CuKα radiation 1.540998 Å working at 45 kV and 40 mA.
La estructura de las multicapas de Cr/CrN se estudió mediante XRD en un equipo X-pertPro Panalytical en los modos de haz rasante y Bragg-Brentano con línea monocromática kα del cobre 1,540998Å trabajando a 45 kV y 40 mA.