Substrates were marked before depositing the coatings for thickness measurements and this mark was delayed after deposition, leading to a step which allowed measuring film thickness using a DEKTAK 150 profilometer with 6 Å resolution.
Para la medición del espesor de los recubrimientos, previo al depósito, se marcó el sustrato con marcador indeleble. Una vez hecho el depósito se retiró dicha marca con acetona, obteniendo un escalón para medir el espesor en un perfilómetro Dektak 150 con repetibilidad de 6 Å.