Once the samples reached failure, the fracture surfaces were analyzed using a scanning electron microscope SEM device to characterize the various types of cracks at the micro-level, and their position with respect to a specific axis of reference.
Una vez que se produjo la falla en las muestras, se analizaron las superficies fracturadas mediante un microscopio electrónico de barrido SEM a fin de caracterizar los diversos tipos de microfisuras y su posición con respecto a un eje de referencia específico.