section_heading: Eksperimentalno dokazivanje dislokacija
paragraph_text: Linija dislokacije u unutrašnjosti kristala može se promatrati pomoću elektronske mikroskopije na tankim folijama metala. Pošto dislokacije malo izobličuju okolnu rešetku mijenja se Braggov uvjet za refleksiju, pa se na snimci dobivenoj pomoću elektronskog mikroskopa dislokacije opažaju u vidu svijetlih i tamnih linija. Za ove eksperimente koriste se folije debljine od 10 do 1 000 nm). Dislokacije se mogu dokazati pomoću: rendgenske difrakcije, elektronske mikroskopije, tzv. dekoriranja (npr. prevlačenja silicija s bakrom), nagrizanja (jetkanje), raster elektronske mikroskopije itd.<ref>"Specijalni čelici", skripta - Sveučilište u Zagrebu, www.simet.unizg.hr, 2011.