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Sèvi ak mikwoskòp stereoskopik, aparans nan eleman pou 360 ° tout-wonn obsèvasyon. Konsantre nan sitiyasyon obsèvasyon gen ladan anbalaj pwodwi; chip kalite, dat, pakèt; enprime ak anbalaj eta; pin aranjman, coplanar ak plating nan ka a ak sou sa.
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Verwendung von stereoskopischen Mikroskop, das Aussehen der Komponenten für 360 ° Allround-Beobachtung. Der Schwerpunkt des Beobachtungsstatus ist die Produktverpackung; Chip-Typ, Datum, Batch; Druck- und Verpackungszustand; Pin-Anordnung, koplanar mit der Beschichtung des Gehäuses und so weiter.