These upper lenses of the TEM then further focus the electron beam to the desired size and location on the sample. Manipulation of the electron beam is performed using two physical effects. The interaction of electrons with a magnetic field will cause electrons to move according to the left hand rule, thus allowing for electromagnets to manipulate the electron beam.
Section::::กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM). ไม่เหมือนกับแบบ TEM ที่อิเล็กตรอนของลําแสงไฟฟ้าแรงสูงจะเก็บภาพของชิ้นงาน, ลําแสงอิเล็กตรอนของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ไม่ได้เก็บภาพที่สมบูรณ์ของชิ้นงานได้ตลอดเวลา SEM จะผลิตภาพโดยตรวจสอบชิ้นงานโดยใช้ลําแสงอิเล็กตรอนที่โฟกัสให้กราด(สแกน)ไปทั่วพื้นที่สี่เหลี่ยมของชิ้นงาน (เหมือนการสแกนจอภาพ CRT ()) เมื่อลําแสงอิเล็กตรอนมีปฏิสัมพันธ์กับชิ้นงาน มันจะสูญเสียพลังงานตามความหลากหลายของกลไก