Common-path interferometer
ಕಾಮನ್-ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಎಂಬುದು ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳ ಒಂದು ವರ್ಗವಾಗಿದ್ದು, ಇದರಲ್ಲಿ ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣ ಮತ್ತು ಮಾದರಿ ಕಿರಣಗಳು ಒಂದೇ ಹಾದಿಯಲ್ಲಿ ಚಲಿಸುತ್ತವೆ. ಉದಾಹರಣೆಗಳಲ್ಲಿ ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್, ಜೆರ್ನೈಕ್ ಫೇಸ್-ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಮತ್ತು ಪಾಯಿಂಟ್ ಡಿಫ್ರಾಕ್ಷನ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಸೇರಿವೆ. ಮೈಕೆಲ್ಸನ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಅಥವಾ ಮ್ಯಾಕ್-ಜೆಹಂಡರ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನಂತಹ "ಡಬಲ್-ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್" ಗಿಂತ ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಪರಿಸರದ ಕಂಪನಗಳಿಗೆ ಹೆಚ್ಚು ದೃಢವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಒಂದೇ ಮಾರ್ಗದಲ್ಲಿ ಪ್ರಯಾಣಿಸುತ್ತಿದ್ದರೂ, ಉಲ್ಲೇಖ ಮತ್ತು ಮಾದರಿ ಕಿರಣಗಳು ವಿರುದ್ಧ ದಿಕ್ಕುಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರಯಾಣಿಸಬಹುದು, ಅಥವಾ ಅವು ಒಂದೇ ದಿಕ್ಕಿನಲ್ಲಿ ಪ್ರಯಾಣಿಸಬಹುದು ಆದರೆ ಅದೇ ಅಥವಾ ವಿಭಿನ್ನ ಧ್ರುವೀಕರಣದೊಂದಿಗೆ. ಡಬಲ್-ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು ಹಂತದ ಶಿಫ್ಟ್ಗಳಿಗೆ ಅಥವಾ ಉಲ್ಲೇಖ ಮತ್ತು ಮಾದರಿ ತೋಳುಗಳ ನಡುವಿನ ಉದ್ದದ ಬದಲಾವಣೆಗಳಿಗೆ ಹೆಚ್ಚು ಸೂಕ್ಷ್ಮವಾಗಿರುತ್ತವೆ. ಈ ಕಾರಣದಿಂದಾಗಿ, ಡಬಲ್-ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು ಸಣ್ಣ ಸ್ಥಳಾಂತರಗಳು, ವಕ್ರೀಕಾರಕ-ಸೂಚ್ಯಂಕ ಬದಲಾವಣೆಗಳು, ಮೇಲ್ಮೈ ಅಕ್ರಮಗಳು ಮತ್ತು ಮುಂತಾದವುಗಳ ಮಾಪನಕ್ಕಾಗಿ ವಿಜ್ಞಾನ ಮತ್ತು ಉದ್ಯಮದಲ್ಲಿ ವ್ಯಾಪಕವಾದ ಬಳಕೆಯನ್ನು ಕಂಡುಕೊಂಡಿವೆ. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಉಲ್ಲೇಖ ಮತ್ತು ಮಾದರಿ ಮಾರ್ಗಗಳ ನಡುವಿನ ಸಾಪೇಕ್ಷ ಸ್ಥಳಾಂತರ ಅಥವಾ ವಕ್ರೀಕಾರಕ-ಸೂಚ್ಯಂಕ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗಳಿಗೆ ಸಂವೇದನೆ ಅಪೇಕ್ಷಣೀಯವಲ್ಲದ ಅನ್ವಯಗಳಿವೆ; ಪರ್ಯಾಯವಾಗಿ, ಒಬ್ಬರು ಬೇರೆ ಕೆಲವು ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಮಾಪನದಲ್ಲಿ ಆಸಕ್ತಿ ಹೊಂದಿರಬಹುದು. ಆಯ್ದ ಉದಾಹರಣೆಗಳಾದ ಸಗ್ನಾಕ್ ಸಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು ಉದ್ದ ಅಥವಾ ಉದ್ದದ ಬದಲಾವಣೆಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಸೂಕ್ತವಲ್ಲ. ಸಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನಲ್ಲಿ, ಬೀಮ್ಸ್ಪ್ಲಿಟರ್ನಿಂದ ಹೊರಹೊಮ್ಮುವ ಎರಡೂ ಕಿರಣಗಳು ಏಕಕಾಲದಲ್ಲಿ ಆಯತದ ಎಲ್ಲಾ ನಾಲ್ಕು ಬದಿಗಳನ್ನು ವಿರುದ್ಧ ದಿಕ್ಕುಗಳಲ್ಲಿ ಸುತ್ತುತ್ತವೆ ಮತ್ತು ಮೂಲ ಬೀಮ್ಸ್ಪ್ಲಿಟರ್ನಲ್ಲಿ ಮರುಸಂಯೋಜಿಸುತ್ತವೆ. ಇದರ ಪರಿಣಾಮವಾಗಿ, ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್, ಮೊದಲ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ, ಅದರ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಘಟಕಗಳ ಯಾವುದೇ ಚಲನೆಗೆ ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಸಂವೇದನಾಶೀಲವಾಗಿಲ್ಲ. ವಾಸ್ತವವಾಗಿ, ಹಂತದ ಬದಲಾವಣೆಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ಉಪಯುಕ್ತವಾಗಿಸಲು, ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಸ್ವಲ್ಪಮಟ್ಟಿಗೆ ಬೇರ್ಪಡಿಸಬೇಕು, ಇದರಿಂದಾಗಿ ಅವು ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಸಾಮಾನ್ಯ ಮಾರ್ಗವನ್ನು ಅನುಸರಿಸುವುದಿಲ್ಲ. ಸ್ವಲ್ಪ ಕಿರಣದ ಬೇರ್ಪಡಿಕೆಯೊಂದಿಗೆ, ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು ಅತ್ಯುತ್ತಮ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಮತ್ತು ಫ್ರಿಂಜ್ ಸ್ಥಿರತೆಯನ್ನು ನೀಡುತ್ತವೆ. ಸಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಎರಡು ಮೂಲಭೂತ ಸ್ಥಳವಿಜ್ಞಾನಗಳು ಸಾಧ್ಯವಾಗಿದ್ದು, ಪ್ರತಿ ಮಾರ್ಗದಲ್ಲಿ ಸಮ ಅಥವಾ ಬೆಸ ಸಂಖ್ಯೆಯ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳಿವೆಯೇ ಎಂಬುದರಲ್ಲಿ ಭಿನ್ನವಾಗಿರುತ್ತವೆ. ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನಲ್ಲಿ ವಿವರಿಸಿದಂತೆ ಬೆಸ ಸಂಖ್ಯೆಯ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ, ವಿರುದ್ಧವಾಗಿ ಚಲಿಸುವ ಕಿರಣಗಳ ತರಂಗಮುಖಗಳು ಹೆಚ್ಚಿನ ಬೆಳಕಿನ ಪಥದ ಮೇಲೆ ಪರಸ್ಪರ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ ಪಾರ್ಶ್ವವಾಗಿ ತಲೆಕೆಳಗಾಗಿರುತ್ತವೆ, ಆದ್ದರಿಂದ ಟೋಪೋಲಜಿಯು ಕಟ್ಟುನಿಟ್ಟಾಗಿ ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗವಲ್ಲ. ಸಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಅತ್ಯಂತ ಪ್ರಸಿದ್ಧವಾದ ಬಳಕೆಯು ಅದರ ತಿರುಗುವಿಕೆಯ ಸಂವೇದನೆಯಲ್ಲಿದೆ. ಈ ರೀತಿಯ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಮೇಲೆ ತಿರುಗುವಿಕೆಯ ಪರಿಣಾಮಗಳ ಮೊದಲ ವಿವರಗಳನ್ನು 1913ರಲ್ಲಿ ಜಾರ್ಜಸ್ ಸಗ್ನಾಕ್ ಅವರು ಪ್ರಕಟಿಸಿದರು, ಅವರು "ಈಥರ್ನ ಸುತ್ತಾಟ" ವನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವ ತಮ್ಮ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವು ಸಾಪೇಕ್ಷತಾ ಸಿದ್ಧಾಂತವನ್ನು ನಿರಾಕರಿಸಿದೆ ಎಂದು ತಪ್ಪಾಗಿ ನಂಬಿದ್ದರು. ಇಂದಿನ ಸಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯು ಸಗ್ನಾಕ್ನ ಮೂಲ ಜೋಡಣೆಯನ್ನು ಮೀರಿದೆ. ತಿರುಗುವಿಕೆಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯು ಪ್ರತಿ-ತಿರುಗುವ ಕಿರಣಗಳಿಂದ ಸುತ್ತುವರಿದ ಪ್ರದೇಶಕ್ಕೆ ಅನುಪಾತದಲ್ಲಿರುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಇಂದಿನ ವಂಶಸ್ಥರಾದ ಫೈಬರ್ ಆಪ್ಟಿಕ್ ಗೈರೊಸ್ಕೋಪ್ಗಳು ಕನ್ನಡಿಗಳ ಬದಲಿಗೆ ಸಾವಿರಾರು ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಫೈಬರ್ನ ಲೂಪ್ಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ, ಅಂದರೆ ಸಣ್ಣ ಮತ್ತು ಮಧ್ಯಮ ಗಾತ್ರದ ಘಟಕಗಳು ಸಹ ಭೂಮಿಯ ತಿರುಗುವಿಕೆಯನ್ನು ಸುಲಭವಾಗಿ ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುತ್ತವೆ. ರಿಂಗ್ ಲೇಸರ್ ಗೈರೋಸ್ಕೋಪ್ಗಳು (ಸಚಿತ್ರವಾಗಿಲ್ಲ) ಜಡತ್ವ ಮಾರ್ಗದರ್ಶನ ವ್ಯವಸ್ಥೆಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರಮುಖ ಅನ್ವಯಿಕೆಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಸಗ್ನಾಕ್ ಪರಿಭ್ರಮಣ ಸಂವೇದಕದ ಮತ್ತೊಂದು ರೂಪವಾಗಿದೆ. ತಮ್ಮ ಅಸಾಧಾರಣ ವ್ಯತಿರಿಕ್ತತೆ ಮತ್ತು ಅಂಚಿನ ಸ್ಥಿರತೆಯ ಕಾರಣದಿಂದಾಗಿ, ಸಗ್ನಾಕ್ ಸಂರಚನೆಯನ್ನು ಬಳಸುವ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು ಐನ್ಸ್ಟೈನ್ನ ವಿಶೇಷ ಸಾಪೇಕ್ಷತೆಯ ಆವಿಷ್ಕಾರಕ್ಕೆ ಕಾರಣವಾದ ಪ್ರಯೋಗಗಳಲ್ಲಿ ಮತ್ತು ಸೈದ್ಧಾಂತಿಕ ಮತ್ತು ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಸವಾಲುಗಳ ವಿರುದ್ಧ ಸಾಪೇಕ್ಷತೆಯ ನಂತರದ ರಕ್ಷಣೆಯಲ್ಲಿ ಪ್ರಮುಖ ಪಾತ್ರ ವಹಿಸಿದವು. ಉದಾಹರಣೆಗೆ, 1887ರ ತಮ್ಮ ಪ್ರಸಿದ್ಧ ಪ್ರಯೋಗಕ್ಕೆ ಒಂದು ವರ್ಷ ಮೊದಲು, ಮೈಕೆಲ್ಸನ್ ಮತ್ತು ಮಾರ್ಲೆ (1886) 1851ರ ಫಿಜೋ ಪ್ರಯೋಗವನ್ನು ಪುನರಾವರ್ತಿಸಿದರು, ಫಿಜೋವಿನ ಸೆಟಪ್ ಅನ್ನು ಅಂತಹ ಹೆಚ್ಚಿನ ಸ್ಥಿರತೆಯ ಸಮ-ಪ್ರತಿಫಲನ ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನೊಂದಿಗೆ ಬದಲಾಯಿಸಿದರು, ಬೆಳಕಿನ ಮಾರ್ಗದಲ್ಲಿ ಬೆಳಕಿನ ಹೊಂದಾಣಿಕೆಯನ್ನು ಇಡುವುದು ಸಹ ಕಲಾಕೃತಿಗಳ ಅಂಚಿನ ಸ್ಥಳಾಂತರಕ್ಕೆ ಕಾರಣವಾಗಲಿಲ್ಲ. 1935 ರಲ್ಲಿ, ಗುಸ್ಟಾಫ್ ವಿಲ್ಹೆಲ್ಮ್ ಹಮ್ಮರ್ ಅವರು ವಿಶೇಷ ಸಾಪೇಕ್ಷತೆಗೆ ಸೈದ್ಧಾಂತಿಕ ಸವಾಲನ್ನು ನಿರಾಕರಿಸಿದರು, ಇದು ಮೈಕೆಲ್ಸನ್-ಮಾರ್ಲೆ-ರೀತಿಯ ಪ್ರಯೋಗಗಳ ಶೂನ್ಯ ಫಲಿತಾಂಶಗಳನ್ನು ಬೆಸ-ಪ್ರತಿಫಲನ ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಕೇವಲ ಈಥರ್-ಡ್ರ್ಯಾಗಿಂಗ್ನ ಕಲಾಕೃತಿ ಎಂದು ವಿವರಿಸಲು ಪ್ರಯತ್ನಿಸಿತು. ಅವರು ಈ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ತೆರೆದ ಸ್ಥಳದಲ್ಲಿ, ಯಾವುದೇ ತಾಪಮಾನ ನಿಯಂತ್ರಣವಿಲ್ಲದ ಎತ್ತರದ ಬೆಟ್ಟದ ತುದಿಯಲ್ಲಿ ನಿರ್ವಹಿಸಬಹುದಾಗಿತ್ತು, ಆದರೂ ಇನ್ನೂ 1/10 ಫ್ರಿಂಜ್ ನಿಖರತೆಯ ವಾಚನಗಳನ್ನು ಸಾಧಿಸುತ್ತಾರೆ. ಲೆನ್ಸ್ ಪರೀಕ್ಷೆ ಮತ್ತು ದ್ರವದ ಹರಿವಿನ ರೋಗನಿರ್ಣಯದಲ್ಲಿ ಉಪಯುಕ್ತವಾದ ಮತ್ತೊಂದು ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಎಂದರೆ 1933ರಲ್ಲಿ ಲಿನ್ನಿಕ್ ಕಂಡುಹಿಡಿದ ಪಾಯಿಂಟ್ ಡಿಫ್ರಾಕ್ಷನ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ (ಪಿಡಿಐ). ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣವು ಅರೆಪಾರದರ್ಶಕ ಫಲಕದಲ್ಲಿ ಏರೀ ಡಿಸ್ಕ್ನ ಅರ್ಧದಷ್ಟು ವ್ಯಾಸದ ಸಣ್ಣ ಪಿನ್ ಹೋಲ್ನಿಂದ ವಿವರ್ತನೆಯಿಂದ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುತ್ತದೆ. ಅಂಕಿ. 1 ಪಿನ್ ಹೋಲ್ ಮೇಲೆ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸಿದ ಅಪವರ್ತಿತ ತರಂಗಮುಖವನ್ನು ವಿವರಿಸುತ್ತದೆ. ವಿವರಿಸಿದ ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣ ಮತ್ತು ಹರಡುವ ಪರೀಕ್ಷಾ ತರಂಗಗಳು ಮಧ್ಯಪ್ರವೇಶಿಸಿ ಅಂಚುಗಳನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತವೆ. ಪಿ. ಡಿ. ಐ. ಯ ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗ ವಿನ್ಯಾಸವು ಇದಕ್ಕೆ ಹಲವಾರು ಪ್ರಮುಖ ಪ್ರಯೋಜನಗಳನ್ನು ತರುತ್ತದೆ. (1) ಮ್ಯಾಕ್-ಜೆಹಂಡರ್ ಅಥವಾ ಮೈಕೆಲ್ಸನ್ ವಿನ್ಯಾಸಗಳಿಗೆ ಅಗತ್ಯವಿರುವ ಎರಡು ಮಾರ್ಗಗಳಿಗಿಂತ ಕೇವಲ ಒಂದೇ ಲೇಸರ್ ಮಾರ್ಗ ಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಪ್ರಕ್ಷುಬ್ಧ ಮಾಧ್ಯಮದ ಮೂಲಕ ದೀರ್ಘ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮಾರ್ಗಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಗಾಳಿ ಸುರಂಗಗಳಂತಹ ದೊಡ್ಡ ಇಂಟರ್ಫೆರೊಮೆಟ್ರಿಕ್ ಸೆಟಪ್ಗಳಲ್ಲಿ ಈ ಪ್ರಯೋಜನವು ಬಹಳ ಮುಖ್ಯವಾಗಿದೆ. (2) ಕಾಮನ್-ಪಾತ್ ವಿನ್ಯಾಸವು ಡಬಲ್ ಪಾತ್ ವಿನ್ಯಾಸಗಳಿಗಿಂತ ಕಡಿಮೆ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಘಟಕಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತದೆ, ಇದು ಜೋಡಣೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ಸುಲಭಗೊಳಿಸುತ್ತದೆ, ಜೊತೆಗೆ ವೆಚ್ಚ, ಗಾತ್ರ ಮತ್ತು ತೂಕವನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ, ವಿಶೇಷವಾಗಿ ದೊಡ್ಡ ಸೆಟಪ್ಗಳಿಗೆ. (3) ಡಬಲ್ ಪಾತ್ ವಿನ್ಯಾಸದ ನಿಖರತೆಯು ಉಲ್ಲೇಖ ಅಂಶವನ್ನು ಗುರುತಿಸುವ ನಿಖರತೆಯ ಮೇಲೆ ಅವಲಂಬಿತವಾಗಿದ್ದರೂ, ಎಚ್ಚರಿಕೆಯ ವಿನ್ಯಾಸವು ಪಿ. ಡಿ. ಐ. ಯ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾದ ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣವು ಖಚಿತವಾದ ನಿಖರತೆಯನ್ನು ಹೊಂದಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ಒಂದು ಅನನುಕೂಲವೆಂದರೆ, ಪಿನ್ ಹೋಲ್ ಮೂಲಕ ಹಾದುಹೋಗುವ ಬೆಳಕಿನ ಪ್ರಮಾಣವು ಪಿನ್ ಹೋಲ್ ಮೇಲೆ ಬೆಳಕನ್ನು ಎಷ್ಟು ಚೆನ್ನಾಗಿ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸಬಹುದು ಎಂಬುದರ ಮೇಲೆ ಅವಲಂಬಿತವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಘಟನೆಯ ಅಲೆಯ ಮುಂಭಾಗವು ತೀವ್ರವಾಗಿ ವ್ಯತಿರಿಕ್ತವಾಗಿದ್ದರೆ, ಬಹಳ ಕಡಿಮೆ ಬೆಳಕು ಹಾದುಹೋಗಬಹುದು. ಪಿ. ಡಿ. ಐ. ಯು ವಿವಿಧ ಹೊಂದಾಣಿಕೆಯ ದೃಗ್ವಿಜ್ಞಾನದ ಅನ್ವಯಿಕೆಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಕೆಯನ್ನು ಕಂಡಿದೆ. ಲ್ಯಾಟರಲ್ ಶಿಯರಿಂಗ್ ಲ್ಯಾಟರಲ್ ಶಿಯರಿಂಗ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೊಮೆಟ್ರಿಯು ತರಂಗಮುಖ ಸಂವೇದನೆಯ ಸ್ವಯಂ-ಉಲ್ಲೇಖ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ತರಂಗಮುಖವನ್ನು ಪ್ರತ್ಯೇಕ ಮಾರ್ಗ ಉಲ್ಲೇಖ ತರಂಗಮುಖದೊಂದಿಗೆ ಹೋಲಿಸುವ ಬದಲು, ಪಾರ್ಶ್ವದ ಕತ್ತರಿಸುವ ಇಂಟರ್ಫೆರೊಮೆಟ್ರಿಯು ತರಂಗಮುಖವನ್ನು ತನ್ನದೇ ಆದ ಬದಲಾದ ಆವೃತ್ತಿಯೊಂದಿಗೆ ಮಧ್ಯಪ್ರವೇಶಿಸುತ್ತದೆ. ಇದರ ಪರಿಣಾಮವಾಗಿ, ಇದು ತರಂಗಮುಖದ ಇಳಿಜಾರುಗಳಿಗೆ ಸಂವೇದನಾಶೀಲವಾಗಿರುತ್ತದೆ, ತರಂಗಮುಖದ ಆಕಾರಕ್ಕೆ ಅಲ್ಲ. ಸಚಿತ್ರ ಸಮತಲ ಸಮಾನಾಂತರ ಫಲಕ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಪರೀಕ್ಷೆ ಮತ್ತು ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣಗಳಿಗೆ ಅಸಮಾನ ಮಾರ್ಗ ಉದ್ದವನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ; ಈ ಕಾರಣದಿಂದಾಗಿ, ಇದನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ಏಕವರ್ಣದ (ಲೇಸರ್) ಬೆಳಕಿನೊಂದಿಗೆ ಬಳಸಬೇಕು. ಪ್ರೇತ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಮಾಡಲು ಇದನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಎರಡೂ ಮೇಲ್ಮೈಗಳಲ್ಲಿ ಯಾವುದೇ ಲೇಪನವಿಲ್ಲದೆ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಅಡಿಯಲ್ಲಿರುವ ಮಸೂರದಿಂದ ವ್ಯತಿರಿಕ್ತವಾದ ತರಂಗಮುಖವು ಫಲಕದ ಮುಂಭಾಗ ಮತ್ತು ಹಿಂಭಾಗದಿಂದ ಪ್ರತಿಫಲಿಸಿ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಮಾದರಿಯನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ಮೂಲ ವಿನ್ಯಾಸದಲ್ಲಿನ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗಳು ಕನ್ನಡಿಗಳ ಪರೀಕ್ಷೆಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಜಾಮಿನ್, ಮೈಕೆಲ್ಸನ್, ಮ್ಯಾಕ್-ಜೆಹಂಡರ್ ಮತ್ತು ಇತರ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ವಿನ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಆಧರಿಸಿದ ಪಾರ್ಶ್ವದ ಕತ್ತರಿಸುವ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಇತರ ರೂಪಗಳು ಸರಿದೂಗಿಸಿದ ಮಾರ್ಗಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿವೆ ಮತ್ತು ಬಿಳಿ ಬೆಳಕಿನೊಂದಿಗೆ ಬಳಸಬಹುದು. ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಜೊತೆಗೆ, ಲ್ಯಾಟರಲ್ ಶಿಯರಿಂಗ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೊಮೆಟ್ರಿಯ ಅನ್ವಯಗಳು ತೆಳುವಾದ ಫಿಲ್ಮ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ, ಪಾರದರ್ಶಕ ವಸ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ದ್ರವ್ಯರಾಶಿ ಮತ್ತು ಉಷ್ಣ ಪ್ರಸರಣ, ವಕ್ರೀಕಾರಕ ಸೂಚ್ಯಂಕ ಮತ್ತು ವಕ್ರೀಕಾರಕ ಸೂಚ್ಯಂಕ ಮಾಪನದ ಗ್ರೇಡಿಯಂಟ್, ಕೊಲಿಮೇಷನ್ ಪರೀಕ್ಷೆ ಮತ್ತು ಹೊಂದಾಣಿಕೆಯ ದೃಗ್ವಿಜ್ಞಾನವನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿವೆ. ಶಿಯರಿಂಗ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು, ಲ್ಯಾಟರಲ್ ಶಿಯರಿಂಗ್, ಹಾರ್ಟ್ಮನ್, ಶಾಕ್-ಹಾರ್ಟ್ಮನ್, ರೊಟೇಷನಲ್ ಶಿಯರಿಂಗ್, ಫೋಲ್ಡಿಂಗ್ ಶಿಯರಿಂಗ್ ಮತ್ತು ಅಪರ್ಚರ್ ಮಾಸ್ಕಿಂಗ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುವ ಸಾಮಾನ್ಯ ಚೌಕಟ್ಟನ್ನು ಕೈಗಾರಿಕೆಯಿಂದ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಲಾದ ಹೆಚ್ಚಿನ ತರಂಗಮುಖ ಸಂವೇದಕಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಫ್ರೆಸ್ನೆಲ್ನ ಬೈಪ್ರಿಸಮ್ ಆಧುನಿಕ ದೃಷ್ಟಿಕೋನದಿಂದ, ಯಂಗ್ನ ಡಬಲ್ ಸ್ಲಿಟ್ ಪ್ರಯೋಗದ ಫಲಿತಾಂಶ (ಚಿತ್ರ ನೋಡಿ. 2) ಬೆಳಕಿನ ತರಂಗ ಸ್ವರೂಪವನ್ನು ಸ್ಪಷ್ಟವಾಗಿ ಸೂಚಿಸುತ್ತದೆ, ಆದರೆ 1800 ರ ದಶಕದ ಆರಂಭದಲ್ಲಿ ಹಾಗಿರಲಿಲ್ಲ. ಎಲ್ಲಾ ನಂತರ, ನ್ಯೂಟನ್, ಈಗ ವಿವರ್ತನೆಯ ವಿದ್ಯಮಾನಗಳೆಂದು ಗುರುತಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿರುವುದನ್ನು ಗಮನಿಸಿದ್ದನು ಮತ್ತು ಅವುಗಳ ಬಗ್ಗೆ ತನ್ನ ಥರ್ಡ್ ಬುಕ್ ಆಫ್ ಆಪ್ಟಿಕ್ಸ್ನಲ್ಲಿ ಬರೆದಿದ್ದನು, ಅವುಗಳನ್ನು ತನ್ನ ಬೆಳಕಿನ ಕಾರ್ಪಸ್ಕುಲರ್ ಸಿದ್ಧಾಂತದ ಪರಿಭಾಷೆಯಲ್ಲಿ ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಿದನು. ಯಂಗ್ ಅವರ ಸಮಕಾಲೀನರು ಅವರ ಫಲಿತಾಂಶಗಳು ಸೀಳುಗಳ ಅಂಚುಗಳಿಂದ ವಿವರ್ತನೆಯ ಪರಿಣಾಮಗಳನ್ನು ಪ್ರತಿನಿಧಿಸಬಹುದು ಎಂದು ಆಕ್ಷೇಪಣೆಗಳನ್ನು ಎತ್ತಿದರು, ಇದು ತಾತ್ವಿಕವಾಗಿ ನ್ಯೂಟನ್ ಈ ಹಿಂದೆ ಗಮನಿಸಿದ ಅಂಚುಗಳಿಗಿಂತ ಭಿನ್ನವಾಗಿರಲಿಲ್ಲ. ತರಂಗ ಸಿದ್ಧಾಂತವನ್ನು ಬೆಂಬಲಿಸಿದ ಅಗಸ್ಟಿನ್ ಫ್ರೆಸ್ನೆಲ್, ಅಂಚಿನ ವಿವರ್ತನೆಯ ಪರಿಣಾಮವೆಂದು ಸರಳವಾಗಿ ವಿವರಿಸಲಾಗದ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಪರಿಣಾಮಗಳನ್ನು ಪ್ರದರ್ಶಿಸಲು ಸರಣಿ ಪ್ರಯೋಗಗಳನ್ನು ಮಾಡಿದರು. ಇವುಗಳಲ್ಲಿ ಅತ್ಯಂತ ಗಮನಾರ್ಹವಾದುದು ವಕ್ರೀಭವನದ ಮೂಲಕ ಎರಡು ವಾಸ್ತವ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಮೂಲಗಳನ್ನು ರಚಿಸಲು ಅವರು ಬೈಪ್ರಿಸಮ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಿದ್ದು. ಫ್ರೆಸ್ನೆಲ್ ಬೈಪ್ರಿಸಮ್ನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಆವೃತ್ತಿಯನ್ನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹೊಲೊಗ್ರಾಫಿಯಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದು ಒಂದು ವಸ್ತುವಿನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಛಾಯಾಚಿತ್ರವಾಗಿ ದಾಖಲಿಸುವ ಇಮೇಜಿಂಗ್ ತಂತ್ರವಾಗಿದೆ. ಹೊಲೊಗ್ರಾಮ್ ಅನ್ನು ನಂತರ ಲೇಸರ್ನಿಂದ ಬೆಳಗಿಸಬಹುದು, ಇದರ ಪರಿಣಾಮವಾಗಿ ಮೂಲ ವಸ್ತುವಿನ ದೊಡ್ಡದಾದ ಚಿತ್ರಣವನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು, ಆದಾಗ್ಯೂ ಪ್ರಸ್ತುತ ಆದ್ಯತೆಯು ಹೊಲೊಗ್ರಾಮ್ಗಳ ಸಂಖ್ಯಾತ್ಮಕ ಪುನರ್ನಿರ್ಮಾಣಕ್ಕೆ ಆಗಿದೆ. ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ಚಿತ್ರಣ ತಂತ್ರಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಲ್ಲಿ ಸಾಧ್ಯವಾದಷ್ಟು ಹೆಚ್ಚಿನ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಅನ್ನು ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸಲು ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಲಾಗಿದೆ. ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ನಿರ್ಣಯವು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ತರಂಗಾಂತರದಿಂದ ಸೀಮಿತವಾಗಿಲ್ಲ, ಆದರೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮಸೂರಗಳ ದೊಡ್ಡ ವಿಚಲನಗಳಿಂದ ಸೀಮಿತವಾಗಿದೆ. ಅಂಕಿ. 3 ಒಂದು ಇಂಟರ್ಫೆರೆನ್ಸ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್ನ ಮೂಲ ಜೋಡಣೆಯನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಬೈಪ್ರಿಸಮ್ ನೆಲದ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದಲ್ಲಿ ಎರಡು ಪ್ಲೇಟ್ ವಿದ್ಯುದ್ವಾರಗಳಿಂದ ಬ್ರಾಕೆಟ್ ಮಾಡಲಾದ ಸೂಕ್ಷ್ಮ, ಧನಾತ್ಮಕ ಆವೇಶದ ವಿದ್ಯುತ್ ತಂತುಗಳನ್ನು (ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ ಚುಕ್ಕೆಯಾಗಿ ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುತ್ತದೆ) ಒಳಗೊಂಡಿದೆ. ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ 1 ಮೈಕ್ರಾನ್ ಮೀಟರ್ಗಿಂತ ಹೆಚ್ಚಿಲ್ಲದ ತಂತು, ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಚಿನ್ನದ ಲೇಪಿತ ಕ್ವಾರ್ಟ್ಜ್ ನಾರು. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣದಲ್ಲಿ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಆಫ್-ಆಕ್ಸಿಸ್ನಲ್ಲಿ ಇರಿಸುವ ಮೂಲಕ, ವಿವರಿಸಿದ ಮಾದರಿ ತರಂಗಮುಖ ಮತ್ತು ಉಲ್ಲೇಖ ತರಂಗಮುಖವು ಒಗ್ಗೂಡಿ ಹೊಲೊಗ್ರಾಮ್ ಅನ್ನು ರಚಿಸುತ್ತವೆ. ಲೇಸರ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಗ್ರಾವಿಟೇಶನಲ್-ವೇವ್ ಅಬ್ಸರ್ವೇಟರಿ (LIGO) ಎರಡು 4-ಕಿಮೀ ಮೈಕೆಲ್ಸನ್-ಫ್ಯಾಬ್ರಿ-ಪೆರೋಟ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿತ್ತು ಮತ್ತು ಕಿರಣದ ಸ್ಪ್ಲಿಟರ್ನಲ್ಲಿ ಸುಮಾರು 100 ವ್ಯಾಟ್ಗಳ ಲೇಸರ್ ಶಕ್ತಿಯ ಶಕ್ತಿಯ ಮಟ್ಟದಲ್ಲಿ ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸಿತು. ಪ್ರಸ್ತುತ ಮುಂದುವರಿದ ಎಲ್. ಐ. ಜಿ. ಓ. ಗೆ ಅಪ್ಗ್ರೇಡ್ ಮಾಡಲು ಹಲವಾರು ಕಿಲೋವ್ಯಾಟ್ಗಳ ಲೇಸರ್ ಶಕ್ತಿಯ ಅಗತ್ಯವಿರುತ್ತದೆ, ಮತ್ತು ವಿಜ್ಞಾನಿಗಳು ಉಷ್ಣದ ವಿರೂಪತೆ, ಲೇಸರ್ಗಳ ಆವರ್ತನ ವ್ಯತ್ಯಾಸ, ಕನ್ನಡಿ ಸ್ಥಳಾಂತರ ಮತ್ತು ಉಷ್ಣ ಪ್ರೇರಿತ ಬೈರ್ಫ್ರಿಂಗೆನ್ಸ್ಗಳೊಂದಿಗೆ ಹೋರಾಡಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಅಡ್ವಾನ್ಸ್ಡ್ ಲಿಗೋವನ್ನು ಮೀರಿ ಮೂರನೇ ತಲೆಮಾರಿನ ವರ್ಧನೆಗಾಗಿ ವಿವಿಧ ಸ್ಪರ್ಧಾತ್ಮಕ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ವ್ಯವಸ್ಥೆಗಳನ್ನು ಅನ್ವೇಷಿಸಲಾಗುತ್ತಿದೆ. ಈ ಸ್ಪರ್ಧಾತ್ಮಕ ಸ್ಥಳವಿಜ್ಞಾನಗಳಲ್ಲಿ ಒಂದು ಶೂನ್ಯ-ಪ್ರದೇಶದ ಸಗ್ನಾಕ್ ವಿನ್ಯಾಸವಾಗಿದೆ. ಮೇಲೆ ತಿಳಿಸಿದಂತೆ, ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು, ಮೊದಲ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ, ಅವುಗಳ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಘಟಕಗಳ ಯಾವುದೇ ಸ್ಥಿರ ಅಥವಾ ಕಡಿಮೆ-ಆವರ್ತನ ಸ್ಥಳಾಂತರಕ್ಕೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮವಲ್ಲದವು, ಅಥವಾ ಲೇಸರ್ಗಳು ಅಥವಾ ಬೈರ್ಫ್ರಿಂಗೆನ್ಸ್ನಲ್ಲಿನ ಸಣ್ಣ ಆವರ್ತನ ವ್ಯತ್ಯಾಸದಿಂದ ಅಂಚುಗಳು ಪರಿಣಾಮ ಬೀರುವುದಿಲ್ಲ. ಮೂರನೇ ತಲೆಮಾರಿನ LIGO ಗಾಗಿ ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಶೂನ್ಯ-ಪ್ರದೇಶದ ರೂಪಾಂತರವನ್ನು ಪ್ರಸ್ತಾಪಿಸಲಾಗಿದೆ. ಅಂಕಿ. ವಿರುದ್ಧ ಅರ್ಥದ ಎರಡು ಕುಣಿಕೆಗಳ ಮೂಲಕ ಬೆಳಕನ್ನು ನಿರ್ದೇಶಿಸುವ ಮೂಲಕ, ಶೂನ್ಯದ ಪರಿಣಾಮಕಾರಿ ಪ್ರದೇಶವನ್ನು ಹೇಗೆ ಪಡೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ ಎಂಬುದನ್ನು 1 ತೋರಿಸುತ್ತದೆ. ಆದ್ದರಿಂದ ಸ್ಯಾಗ್ನಾಕ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಈ ರೂಪಾಂತರವು ಅದರ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಘಟಕಗಳ ತಿರುಗುವಿಕೆ ಅಥವಾ ಕಡಿಮೆ ಆವರ್ತನದ ಚಲನೆಗಳಿಗೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವುದಿಲ್ಲ, ಅದೇ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಖಗೋಳಶಾಸ್ತ್ರದ ಆಸಕ್ತಿಯ ಅಸ್ಥಿರ ಘಟನೆಗಳಿಗೆ ಹೆಚ್ಚಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯನ್ನು ಕಾಪಾಡಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಸಿಸ್ಟಮ್ನ ಆಯ್ಕೆಯಲ್ಲಿ ಅನೇಕ ಪರಿಗಣನೆಗಳು ಒಳಗೊಂಡಿವೆ, ಮತ್ತು ಕೆಲವು ಪ್ರದೇಶಗಳಲ್ಲಿ ಶೂನ್ಯ-ಪ್ರದೇಶದ ಸಗ್ನಾಕ್ನ ಶ್ರೇಷ್ಠತೆಯ ಹೊರತಾಗಿಯೂ, ಮೂರನೇ ತಲೆಮಾರಿನ LIGO ಗಾಗಿ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಸಿಸ್ಟಮ್ನ ಒಮ್ಮತದ ಆಯ್ಕೆ ಇನ್ನೂ ಇಲ್ಲ. ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ ಪ್ಲೇಟ್ ಟ್ವಿಮ್ಯಾನ್-ಗ್ರೀನ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗೆ ಒಂದು ಸಾಮಾನ್ಯ ಮಾರ್ಗ ಪರ್ಯಾಯವೆಂದರೆ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ ಪ್ಲೇಟ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್, ಇದನ್ನು ಜೆ. ಎಂ. 1953ರಲ್ಲಿ ಖರೀದಿಸಿದರು. ಟ್ವಿಮ್ಯಾನ್-ಗ್ರೀನ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್, ಡಬಲ್ ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್, ಇದು ಮೈಕೆಲ್ಸನ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ನ ಒಂದು ರೂಪಾಂತರವಾಗಿದ್ದು, ಇದನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೇಲ್ಮೈಗಳು ಮತ್ತು ಮಸೂರಗಳ ನಿಖರತೆಯನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಉಲ್ಲೇಖ ಮತ್ತು ಮಾದರಿ ಮಾರ್ಗಗಳು ವಿಭಿನ್ನವಾಗಿರುವುದರಿಂದ, ಈ ರೀತಿಯ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಕಂಪನಕ್ಕೆ ಮತ್ತು ಬೆಳಕಿನ ಮಾರ್ಗಗಳಲ್ಲಿನ ವಾತಾವರಣದ ಪ್ರಕ್ಷುಬ್ಧತೆಗೆ ಅತ್ಯಂತ ಸೂಕ್ಷ್ಮವಾಗಿರುತ್ತದೆ, ಇವೆರಡೂ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಅಳತೆಗಳಲ್ಲಿ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪ ಮಾಡುತ್ತವೆ. ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೇಲ್ಮೈಯ ನಿಖರ ಅಳತೆಗಳು ಸಹ ಸಹಾಯಕ ದೃಗ್ವಿಜ್ಞಾನದ ಗುಣಮಟ್ಟದ ಮೇಲೆ ಹೆಚ್ಚು ಅವಲಂಬಿತವಾಗಿವೆ. ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಆಗಿರುವುದರಿಂದ, ಉಲ್ಲೇಖ ಮತ್ತು ಪರೀಕ್ಷಾ ಮಾರ್ಗಗಳು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ಹೊಂದಾಣಿಕೆಯಾಗುತ್ತವೆ, ಇದರಿಂದಾಗಿ ಬಿಳಿ ಬೆಳಕಿನೊಂದಿಗೆ ಸಹ ಶೂನ್ಯ ಕ್ರಮದ ಅಂಚನ್ನು ಸುಲಭವಾಗಿ ಪಡೆಯಬಹುದು. ಇದು ಕಂಪನ ಮತ್ತು ಪ್ರಕ್ಷುಬ್ಧತೆಗೆ ತುಲನಾತ್ಮಕವಾಗಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮವಲ್ಲ, ಮತ್ತು ಸಹಾಯಕ ದೃಗ್ವಿಜ್ಞಾನದ ಗುಣಮಟ್ಟವು ಟ್ವಿಮ್ಯಾನ್-ಗ್ರೀನ್ ಸೆಟಪ್ನಲ್ಲಿರುವಷ್ಟು ನಿರ್ಣಾಯಕವಾಗಿಲ್ಲ. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಫ್ರಿಂಜ್ ಕಾಂಟ್ರಾಸ್ಟ್ ಕಡಿಮೆಯಾಗಿದೆ, ಮತ್ತು ಒಂದು ವಿಶಿಷ್ಟವಾದ ಹಾಟ್ಸ್ಪಾಟ್ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ವಿವಿಧ ಉದ್ದೇಶಗಳಿಗೆ ಸೂಕ್ತವಲ್ಲದಂತೆ ಮಾಡಬಹುದು. ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಪರೀಕ್ಷೆಗೆ ಉಪಯುಕ್ತವಾದ ವಿವಿಧ ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳನ್ನು ವಿವರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಅಂಕಿ. 1 ಗೋಳಾಕಾರದ ಕನ್ನಡಿಯನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಸ್ಥಾಪಿಸಲಾದ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ. ಪರೀಕ್ಷೆಯ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಕನ್ನಡಿಯ ವಕ್ರತೆಯ ಕೇಂದ್ರದ ಬಳಿ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ ಅನ್ನು ಹೊಂದಿಸಲಾಗಿದೆ. ಈ ಫಲಕವು ಸಣ್ಣ ಅಪಾರದರ್ಶಕ ತೇಪೆಗಳ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಇವು ಫಲಕದ ಮೇಲೆ ವಿಲೋಮ ಸಮ್ಮಿತಿಯೊಂದಿಗೆ ಜೋಡಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿರುತ್ತವೆ ಆದರೆ ಅವು ಆಕಾರ ಮತ್ತು ವಿತರಣೆಯಲ್ಲಿ ಯಾದೃಚ್ಛಿಕವಾಗಿರುತ್ತವೆ. (1) ಬೆಳಕಿನ ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಭಾಗವು ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ ಮೂಲಕ ನೇರವಾಗಿ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ, ಅದು ಕನ್ನಡೆಯಿಂದ ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ, ಆದರೆ ಎರಡನೇ ಬಾರಿಗೆ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ ಅನ್ನು ಎದುರಿಸುವಾಗ ಅದು ಚದುರುತ್ತದೆ. ಈ ನೇರ-ಚದುರಿದ ಬೆಳಕು ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣವನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತದೆ. (2) ಬೆಳಕಿನ ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಭಾಗವು ಚದುರಿದ ಫಲಕದ ಮೂಲಕ ಹಾದುಹೋಗುವಾಗ, ಕನ್ನಡೆಯಿಂದ ಪ್ರತಿಫಲಿಸುತ್ತದೆ, ಆದರೆ ಎರಡನೇ ಬಾರಿಗೆ ಚದುರಿದ ಫಲಕವನ್ನು ಎದುರಿಸುವಾಗ ನೇರವಾಗಿ ಚದುರಿದ ಫಲಕದ ಮೂಲಕ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ. ಈ ಚದುರಿದ-ನೇರ ಬೆಳಕು ಪರೀಕ್ಷಾ ಕಿರಣವನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತದೆ, ಇದು ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣದೊಂದಿಗೆ ಸಂಯೋಜಿಸಿ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಅಂಚುಗಳನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತದೆ. (3) ಬೆಳಕಿನ ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಭಾಗವು ಅದರ ಎರಡೂ ಮುಖಾಮುಖಿಗಳಲ್ಲಿ ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ ಮೂಲಕ ನೇರವಾಗಿ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ. ಈ ನೇರ-ನೇರ ಬೆಳಕು ಸಣ್ಣ, ಅನಪೇಕ್ಷಿತ ಹಾಟ್ಸ್ಪಾಟ್ ಅನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತದೆ. (4) ಸ್ಕ್ಯಾಟರ್ಪ್ಲೇಟ್ನೊಂದಿಗಿನ ಎರಡೂ ಮುಖಾಮುಖಿಗಳಲ್ಲಿ ಬೆಳಕಿನ ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಭಾಗವು ಚದುರಿಹೋಗಿದೆ. ಈ ಚದುರಿದ-ಚದುರಿದ ಬೆಳಕು ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಮಾದರಿಯ ಒಟ್ಟಾರೆ ವ್ಯತಿರಿಕ್ತತೆಯನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ. ಬಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಬಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ (ಚಿತ್ರ. 4) ದೂರದರ್ಶಕದ ಕನ್ನಡಿಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಬಳಸಬಹುದು. ಇದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬೀಮ್ ಸ್ಪ್ಲಿಟರ್, ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಫ್ಲಾಟ್, ಸಣ್ಣ ಫೋಕಲ್ ಉದ್ದದ ಬೈಕೋನ್ವೆಕ್ಸ್ ಡೈವರ್ಜರ್ ಮತ್ತು ಸೆಮಿಕಂಡಕ್ಟರ್ ಲೇಸರ್ನಂತಹ ಬೆಳಕಿನ ಮೂಲವನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತದೆ. ಇತರ ಸಂರಚನೆಗಳು ಡಬಲ್-ಫೋಕಸ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಮತ್ತು ಸೌಂಡರ್ಸ್ ಪ್ರಿಸ್ಮ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಮತ್ತು ಇತರ ಅನೇಕ ಸಾಮಾನ್ಯ-ಮಾರ್ಗ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ಸಂರಚನೆಗಳನ್ನು ಸಾಹಿತ್ಯದಲ್ಲಿ ವಿವರಿಸಲಾಗಿದೆ. ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಕೊಹೆರೆನ್ಸ್ ಟೊಮೊಗ್ರಫಿ, ಡಿಜಿಟಲ್ ಹೊಲೊಗ್ರಫಿ ಮತ್ತು ಹಂತದ ವಿಳಂಬಗಳ ಮಾಪನ ಸೇರಿದಂತೆ ವಿವಿಧ ಅನ್ವಯಿಕೆಗಳಲ್ಲಿ ಕಾಮನ್-ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳು ಉಪಯುಕ್ತವೆಂದು ಸಾಬೀತಾಗಿದೆ. ಪರಿಸರ ಕಂಪನಕ್ಕೆ ಅವುಗಳ ಸಾಪೇಕ್ಷ ಸ್ಥಿತಿಸ್ಥಾಪಕತ್ವವು ಒಂದು ಸಾಮಾನ್ಯ ಅತ್ಯುತ್ತಮ ಲಕ್ಷಣವಾಗಿದೆ, ಮತ್ತು ಯಾವುದೇ ಉಲ್ಲೇಖ ಕಿರಣ ಲಭ್ಯವಿಲ್ಲದಿದ್ದಾಗ ಅವುಗಳನ್ನು ಕೆಲವೊಮ್ಮೆ ಬಳಸಬಹುದು; ಆದಾಗ್ಯೂ, ಅವುಗಳ ಟೋಪೋಲಜಿಯನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿ, ಅವುಗಳ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪದ ಮಾದರಿಗಳು ಡಬಲ್ ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳಿಂದ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವುದಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ಸಂಕೀರ್ಣವಾಗಿರಬಹುದು. ಡಬಲ್-ಪಾತ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ ರೆಫೆರೆನ್ಸ್ ಇಂಟರ್ಫೆರೋಮೀಟರ್ಗಳನ್ನು ಸಹ ನೋಡಿ