Radiation trapping
ವಿಕಿರಣ ಟ್ರ್ಯಾಪಿಂಗ್, ಅನುರಣನ ವಿಕಿರಣದ ಸೆರೆವಾಸ, ವರ್ಣಪಟಲದ ರೇಖೆಗಳ ವಿಕಿರಣ ವರ್ಗಾವಣೆ, ರೇಖೆಯ ವರ್ಗಾವಣೆ ಅಥವಾ ವಿಕಿರಣ ಪ್ರಸರಣವು ಭೌತಶಾಸ್ತ್ರದಲ್ಲಿ ಒಂದು ವಿದ್ಯಮಾನವಾಗಿದ್ದು, ವಿಕಿರಣವು ಒಂದು ಪರಮಾಣುವಿನಿಂದ ಹೊರಸೂಸಲ್ಪಡುವುದರಿಂದ ಮತ್ತು ಇನ್ನೊಂದರಿಂದ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವುದರಿಂದ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯಲ್ಲಿ "ಸಿಕ್ಕಿಬೀಳಬಹುದು". ಶಾಸ್ತ್ರೀಯ ವಿವರಣೆ ಶಾಸ್ತ್ರೀಯವಾಗಿ, ವಿಕಿರಣದ ಬಲೆಯನ್ನು ಬಹು-ಚದುರುವಿಕೆಯ ವಿದ್ಯಮಾನವೆಂದು ಭಾವಿಸಬಹುದು, ಅಲ್ಲಿ ಫೋಟಾನ್ ಮೋಡದಲ್ಲಿ ಅನೇಕ ಪರಮಾಣುಗಳಿಂದ ಚದುರಿಹೋಗುತ್ತದೆ. ಇದು ಚಿಕಿತ್ಸೆಯನ್ನು ಪ್ರಸರಣ ಸಮಸ್ಯೆಯಾಗಿ ಪ್ರೇರೇಪಿಸುತ್ತದೆ. ಅಂತೆಯೇ, ಸ್ಕ್ಯಾಟರರ್ಗಳ ಸಾಂದ್ರತೆ ಮತ್ತು ಸ್ಕ್ಯಾಟರಿಂಗ್ ಕ್ರಾಸ್ ಸೆಕ್ಷನ್ನ ಪರಸ್ಪರ ಎಂದು ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಲಾದ ಬೆಳಕಿನ ಸರಾಸರಿ ಮುಕ್ತ ಮಾರ್ಗವನ್ನು ಪ್ರಾಥಮಿಕವಾಗಿ ಪರಿಗಣಿಸಬಹುದುಃ ಸ್ಕ್ಯಾಟರಿಂಗ್ ರೇಖಾಚಿತ್ರವು ಐಸೊಟ್ರೊಪಿಕ್ ಎಂದು ಸರಳವಾಗಿ ಊಹಿಸಬಹುದು, ಇದು ಒಟ್ಟು ಕೋನೀಯ ಆವೇಗದ ಸಮಾನ ಜನಸಂಖ್ಯೆಯ ಉಪ ಮಟ್ಟಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಪರಮಾಣುಗಳಿಗೆ ಉತ್ತಮ ಅಂದಾಜು ಎಂದು ಕೊನೆಗೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಶಾಸ್ತ್ರೀಯ ಮಿತಿಯಲ್ಲಿ, ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಶಕ್ತಿಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಹರಡುತ್ತಿದೆ ಎಂದು ನಾವು ಯೋಚಿಸಬಹುದು. ಆದ್ದರಿಂದ, ನಾವು ಪ್ರಸರಣ ಸ್ಥಿರಾಂಕವನ್ನು ಮೂರು ಆಯಾಮಗಳಲ್ಲಿ ಪರಿಗಣಿಸುತ್ತೇವೆ, ಸಾರಿಗೆ ಸಮಯ ಎಲ್ಲಿದೆ. ಚದುರುವಿಕೆಯ ಘಟನೆಗಳ ನಡುವಿನ ಗುಂಪು ವಿಳಂಬ ಮತ್ತು ಸ್ಥಿತಿಸ್ಥಾಪಕ ಚದುರುವಿಕೆಯ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿರುವ ವಿಗ್ನರ್ನ ವಿಳಂಬ ಸಮಯ ಎರಡಕ್ಕೂ ಸಾರಿಗೆ ಸಮಯವು ಕಾರಣವಾಗಿದೆ. ಗುಂಪಿನ ವೇಗ ಎಲ್ಲಿದೆ ಎಂದು ಇದನ್ನು ಬರೆಯಲಾಗಿದೆ. ಫೋಟಾನ್ಗಳು ಅನುರಣನಕ್ಕೆ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿದ್ದಾಗ, ಪರಮಾಣು ಆವಿಯಲ್ಲಿ ಉತ್ತೇಜಿತ ಸ್ಥಿತಿಯ ಜೀವಿತಾವಧಿಯು ಡಿಟ್ಯೂನಿಂಗ್ನಿಂದ ಸ್ವತಂತ್ರವಾಗಿ ಸಾರಿಗೆ ಸಮಯಕ್ಕೆ ಸಮನಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಇದು ಉಪಯುಕ್ತವಾಗಿದೆ, ಏಕೆಂದರೆ ಚದುರುವಿಕೆಯ ಘಟನೆಗಳ ಸರಾಸರಿ ಸಂಖ್ಯೆಯು ವ್ಯವಸ್ಥೆಯಲ್ಲಿ ಕಳೆದ ಸಮಯ ಮತ್ತು ಉತ್ತೇಜಿತ ಸ್ಥಿತಿಯ ಜೀವಿತಾವಧಿಯ ಅನುಪಾತವಾಗಿದೆ (ಅಥವಾ ಸಮಾನವಾಗಿ, ಚದುರುವಿಕೆಯ ಸಮಯ). 3ಡಿ ಪ್ರಸರಣ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಲ್ಲಿ ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಶಕ್ತಿಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಹರಡುವುದರಿಂದ, ಫೋಟಾನ್ ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳುವ ಮೊದಲು ಅದರ ಚದುರುವಿಕೆಯ ಘಟನೆಗಳ ಸರಾಸರಿ ಸಂಖ್ಯೆಯನ್ನು ನಾವು ಕಂಡುಕೊಳ್ಳಬಹುದುಃ ಅಂತಿಮವಾಗಿ, ಚದುರುವಿಕೆಯ ಘಟನೆಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯು ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಆಳಕ್ಕೆ ಈ ಕೆಳಗಿನಂತೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿರಬಹುದು. ಏಕೆಂದರೆ, ಚದುರುವಿಕೆಯ ಘಟನೆಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯು ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಆಳದ ಚೌಕದೊಂದಿಗೆ ಅಳೆಯುತ್ತದೆ. ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣದ ವ್ಯುತ್ಪತ್ತಿ 1947ರಲ್ಲಿ, ಥಿಯೋಡೋರ್ ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಅನುರಣನ ವಿಕಿರಣದ ಸೆರೆವಾಸದ ಸಮಸ್ಯೆಯ ಮೇಲೆ ಹೊಸ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ದಾಳಿ ಮಾಡಿದರು. ಹಿಂದಿನ ವಿಭಾಗದಲ್ಲಿ ಪ್ರಸ್ತುತಪಡಿಸಲಾದ ಶಾಸ್ತ್ರೀಯ ವಿಧಾನವನ್ನು ಮುಂದಿಟ್ಟ ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್, ಫೋಟಾನ್ಗಳಿಗೆ ಸರಾಸರಿ ಮುಕ್ತ ಮಾರ್ಗ ಅಸ್ತಿತ್ವದಲ್ಲಿರಲು ಸಾಧ್ಯವಿಲ್ಲ ಎಂದು ಪ್ರತಿಪಾದಿಸಿದರು. ಅವನ ಚಿಕಿತ್ಸೆಯು ಸಂಭವನೀಯತೆಯ ಕ್ರಿಯೆಯ ಪರಿಚಯದೊಂದಿಗೆ ಪ್ರಾರಂಭವಾಗುತ್ತದೆ, ಇದು ಹೊರಸೂಸುವ ಫೋಟಾನ್ ಬಿಂದುವಿನ ಪರಿಮಾಣ ಅಂಶದೊಳಗೆ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂಭವನೀಯತೆಯನ್ನು ವಿವರಿಸುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚುವರಿಯಾಗಿ, ಉತ್ತೇಜಿತ ಪರಮಾಣುಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚಳ ಮತ್ತು ಇಳಿಕೆಯನ್ನು ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುವ ಮತ್ತು ಉತ್ತೇಜಿತ ಪರಮಾಣುಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯನ್ನು ಪ್ರತಿನಿಧಿಸುವ ಪರಮಾಣು ಸಂಖ್ಯೆ ಸಂರಕ್ಷಣೆಯನ್ನು ಬರೆಯಲು ಜಾರಿಗೊಳಿಸಬಹುದು. ಪ್ರಚೋದಿತ ಪರಮಾಣುವಿನ ಪರಸ್ಪರ ಜೀವಿತಾವಧಿಯನ್ನು ನೀಡಿದಲ್ಲಿ, ನಂತರ ಅದನ್ನು ಇತರ ಎಲ್ಲಾ ಪರಿಮಾಣ ಅಂಶಗಳನ್ನು ಪರಿಗಣಿಸುವ ಮೂಲಕ ಪಡೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ, ಅಲ್ಲಿ ಅದರ ಪರಿಚಯವು ಉಪಯುಕ್ತವಾಗುತ್ತದೆ. ಉತ್ತೇಜಿತ ಪರಮಾಣುಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಗೆ ಹೊರಗಿನ ಪರಿಮಾಣದ ಕೊಡುಗೆಯನ್ನು ಹೊರಗಿನ ಪರಿಮಾಣದಿಂದ ಹೊರಸೂಸುವ ಫೋಟಾನ್ಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯನ್ನು ಆ ಫೋಟಾನ್ಗಳು ಪರಿಮಾಣದೊಳಗೆ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂಭವನೀಯತೆಯಿಂದ ಗುಣಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಎಲ್ಲಾ ಹೊರಗಿನ ಪರಿಮಾಣದ ಅಂಶಗಳ ಮೇಲಿನ ಏಕೀಕರಣವು ಪರ್ಯಾಯವನ್ನು ನೀಡುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಕಣ ಸಂರಕ್ಷಣಾ ಕಾನೂನಿನಲ್ಲಿ, ನಾವು ಉತ್ತೇಜಿತ ಪರಮಾಣುಗಳ ಸಾಂದ್ರತೆಯ ಅವಿಭಾಜ್ಯ ಸಮೀಕರಣವನ್ನು ತಲುಪುತ್ತೇವೆ-ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣ ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣದಿಂದ ಫೋಟಾನ್ಗಳ ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂಭವನೀಯತೆಯನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವುದು ಈಗ ಫೋಟಾನ್ಗಳ ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂಭವನೀಯತೆಯನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲು, ನಾವು ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣವನ್ನು ಗಮನಿಸಿ, ಈ ಪರಿಹಾರಗಳು ವಿನಿಮಯ ಸಮ್ಮಿತಿಯ ಸಹಾಯದಿಂದ ನಿರ್ಬಂಧಕ್ಕೆ ಒಳಪಟ್ಟಿವೆ ಎಂಬುದನ್ನು ಗಮನಿಸಬಹುದು, ಅವುಗಳೆಂದರೆ, ವರ್ಗವನ್ನು ಪೂರ್ಣಗೊಳಿಸಲು ಮತ್ತು ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂಭವನೀಯತೆಯನ್ನು ಪರಿಚಯಿಸಲು ಕಾರಣವಾಗುತ್ತದೆ ಎಂದು ಪ್ರತಿಪಾದಿಸಲು ವ್ಯತ್ಯಾಸದ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಬಳಸಬಹುದು, ಅದರ ವ್ಯಾಖ್ಯಾನವು ಎಲ್ಲಾ ಕಣಗಳನ್ನು 1 ರ ಒಟ್ಟು ಸಂಭವನೀಯತೆಯೊಂದಿಗೆ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳಬೇಕು ಅಥವಾ ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳಬೇಕು ಎಂದು ಅನುಸರಿಸುತ್ತದೆ, ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂಭವನೀಯತೆಯ ವಿಷಯದಲ್ಲಿ ಸಮೀಕರಣವನ್ನು ಪಡೆಯಲಾಗುತ್ತದೆಃ ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟೋ-ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಟ್ರ್ಯಾಪ್ನಲ್ಲಿ (ಎಂಒಟಿ) ಸೀಸಿಯಂ ಪರಮಾಣುಗಳನ್ನು ಬಲೆಗೆ ಬೀಳಿಸುವುದು, ಸ್ಟ್ರಾನ್ಷಿಯಂ ಪರಮಾಣುಗಳ ದಟ್ಟವಾದ ರೈಡ್ಬರ್ಗ್ ಅನಿಲಗಳ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಕ್ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳಲ್ಲಿ ಮತ್ತು ಲೇಸರ್ ಸುಧಾರಣೆಗಾಗಿ ಡೋಪ್ ಮಾಡಲಾದ ಯ್ಟರ್ಬಿಯಂ (III) ಆಕ್ಸೈಡ್ನ ಜೀವಿತಾವಧಿಯ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗಳು ಸೇರಿದಂತೆ ವಿವಿಧ ಪ್ರಯೋಗಗಳಲ್ಲಿ ವಿಕಿರಣ ಬಲೆಯನ್ನು ಗಮನಿಸಲಾಗಿದೆ. ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣವನ್ನು ಪರಿಹರಿಸಲು ಅಥವಾ ಅನುಕರಿಸಲು, ಮಾಂಟೆ ಕಾರ್ಲೊ ವಿಧಾನವನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಅಪಾರದರ್ಶಕತೆ, ಪರಮಾಣು ಪ್ರಭೇದಗಳು, ಡಾಪ್ಲರ್-ವಿಶಾಲ ರೇಖಾಕೃತಿ, ಇತ್ಯಾದಿಗಳ ಪ್ರಯೋಗಕ್ಕಾಗಿ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಗುಣಾಂಕವನ್ನು ಲೆಕ್ಕಹಾಕಲಾಗುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ನಂತರ ಪರಮಾಣು ಆವಿಯ ಮೂಲಕ ಹಾರಾಟದ ನಂತರ ಫೋಟಾನ್ ತಪ್ಪಿಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆಯೇ ಎಂದು ನೋಡಲು ಪರೀಕ್ಷೆಯನ್ನು ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ (ಉಲ್ಲೇಖದಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರ 1 ಅನ್ನು ನೋಡಿ). ಇತರ ವಿಧಾನಗಳಲ್ಲಿ ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣವನ್ನು ರೇಖೀಯ ಸಾಮಾನ್ಯೀಕೃತ ಐಗನ್ ವ್ಯಾಲ್ಯೂ ಸಮಸ್ಯೆಯಾಗಿ ಪರಿವರ್ತಿಸುವುದು ಸೇರಿದೆ, ಇದು ಗಣನೆಗೆ ಹೆಚ್ಚು ದುಬಾರಿಯಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಹಲವಾರು ಸರಳಗೊಳಿಸುವ ಊಹೆಗಳ ಬಳಕೆಯ ಅಗತ್ಯವಿರುತ್ತದೆ, ಇದರಲ್ಲಿ ಹೋಲ್ಸ್ಟೀನ್ ಸಮೀಕರಣದ ಕಡಿಮೆ ಐಗನ್ ಮೋಡ್ ಪ್ಯಾರಾಬೋಲಿಕ್ ಆಕಾರದಲ್ಲಿದೆ, ಪರಮಾಣು ಆವಿ ಗೋಳಾಕಾರವಾಗಿದೆ, ಹತ್ತಿರದ-ಅನುರಣನ ಲೇಸರ್ ಅನ್ನು ಸ್ಥಗಿತಗೊಳಿಸಿದ ನಂತರ ಪರಮಾಣು ಆವಿ ಸ್ಥಿರ ಸ್ಥಿತಿಯನ್ನು ತಲುಪಿದೆ, ಇತ್ಯಾದಿ. ಉಲ್ಲೇಖಗಳು ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ವಿಕಿರಣ