Electron magnetic circular dichroism
ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಸರ್ಕ್ಯುಲರ್ ಡೈಕ್ರೋಯಿಸಮ್ (ಇಎಂಸಿಡಿ) (ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಎನರ್ಜಿ-ಲಾಸ್ ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಕೈರಲ್ ಡೈಕ್ರೋಯಿಸಮ್ ಎಂದೂ ಕರೆಯಲ್ಪಡುತ್ತದೆ) ಎಕ್ಸ್ಎಂಸಿಡಿಗೆ ಸಮಾನವಾದ ಇಇಎಲ್ಎಸ್ ಆಗಿದೆ. ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಮೊದಲ ಬಾರಿಗೆ 2003 ರಲ್ಲಿ ಪ್ರಸ್ತಾಪಿಸಲಾಯಿತು ಮತ್ತು 2006 ರಲ್ಲಿ ವಿಯೆನ್ನಾ ಯೂನಿವರ್ಸಿಟಿ ಆಫ್ ಟೆಕ್ನಾಲಜಿಯಲ್ಲಿ ಪ್ರೊಫೆಸರ್ ಪೀಟರ್ ಸ್ಕಾಟ್ಷ್ನೇಯ್ಡರ್ ಅವರ ಗುಂಪು ಪ್ರಾಯೋಗಿಕವಾಗಿ ದೃಢಪಡಿಸಿತು. XMCDಯಂತೆಯೇ, EMCDಯು ಎರಡು EELS ವರ್ಣಪಟಲದ ವ್ಯತ್ಯಾಸ ವರ್ಣಪಟಲವಾಗಿದ್ದು, ಇದು ಕಾಂತೀಯ ಕ್ಷೇತ್ರದಲ್ಲಿ ವಿರುದ್ಧ ಹೆಲಿಕ್ಸಿಟಿಗಳೊಂದಿಗೆ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸೂಕ್ತವಾದ ಚದುರುವಿಕೆಯ ಪರಿಸ್ಥಿತಿಗಳಲ್ಲಿ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಧ್ರುವೀಕರಣಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ವರ್ಚುವಲ್ ಫೋಟಾನ್ಗಳನ್ನು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳಬಹುದು, ಇದು ವರ್ಣಪಟಲದ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗಳಿಗೆ ಕಾರಣವಾಗುತ್ತದೆ. ಎಡ ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಧ್ರುವೀಕರಣದೊಂದಿಗೆ ಒಂದು ವರ್ಚುವಲ್ ಫೋಟಾನ್ ಮತ್ತು ಬಲ ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಧ್ರುವೀಕರಣದೊಂದಿಗೆ ಒಂದು ಫೋಟಾನ್ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ ಅತಿದೊಡ್ಡ ವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ನಿರೀಕ್ಷಿಸಲಾಗಿದೆ. ಇ. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ. ವರ್ಣಪಟಲದಲ್ಲಿನ ವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಸೂಕ್ಷ್ಮವಾಗಿ ವಿಶ್ಲೇಷಿಸುವ ಮೂಲಕ, ಪರಮಾಣುವಿನ ಆವರ್ತ ಮತ್ತು ಕಕ್ಷೀಯ ಕಾಂತೀಯ ಕ್ಷಣದಂತಹ ಕಾಂತೀಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಬಗ್ಗೆ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು. ಕಬ್ಬಿಣ, ಕೋಬಾಲ್ಟ್ ಮತ್ತು ನಿಕೆಲ್ನಂತಹ ಪರಿವರ್ತನೆಯ ಲೋಹಗಳ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ, ಇ. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ. ಯ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ವರ್ಣಪಟಲವನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಎಲ್-ಅಂಚಿನಲ್ಲಿ ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅಯಾನೀಕರಣ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸುವ ವರ್ಚುವಲ್ ಫೋಟಾನ್ ಅನ್ನು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಮೂಲಕ 2p ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಅನ್ನು 3d ಸ್ಥಿತಿಗೆ ಪ್ರಚೋದಿಸುವುದಕ್ಕೆ ಇದು ಅನುರೂಪವಾಗಿದೆ. ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವಿಕೆಯು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಎನರ್ಜಿ ಲಾಸ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಮ್ (ಇ. ಇ. ಎಲ್. ಎಸ್) ನಲ್ಲಿ ವರ್ಣಪಟಲದ ಲಕ್ಷಣವಾಗಿ ಗೋಚರಿಸುತ್ತದೆ. 3ಡಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸ್ಥಿತಿಗಳು ಅಂಶಗಳ ಕಾಂತೀಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಮೂಲವಾಗಿರುವುದರಿಂದ, ವರ್ಣಪಟಲವು ಕಾಂತೀಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ. ಇದಲ್ಲದೆ, ಪ್ರತಿ ಪರಿವರ್ತನೆಯ ಶಕ್ತಿಯು ಪರಮಾಣು ಸಂಖ್ಯೆಯ ಮೇಲೆ ಅವಲಂಬಿತವಾಗಿರುವುದರಿಂದ, ಪಡೆದ ಮಾಹಿತಿಯು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಅಂಶವಾಗಿದೆ, ಅಂದರೆ, ಇಎಂಸಿಡಿ ವರ್ಣಪಟಲವನ್ನು ಅದರ ವಿಶಿಷ್ಟ ಶಕ್ತಿಯಲ್ಲಿ (ಕಬ್ಬಿಣಕ್ಕೆ 708 ಇವಿ) ಪರಿಶೀಲಿಸುವ ಮೂಲಕ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಅಂಶದ ಕಾಂತೀಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಪ್ರತ್ಯೇಕಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಿದೆ. ಇಎಂಸಿಡಿ ಮತ್ತು ಎಕ್ಸ್ಎಂಸಿಡಿ ಎರಡರಲ್ಲೂ ಒಂದೇ ರೀತಿಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಪರಿವರ್ತನೆಗಳನ್ನು ಪರಿಶೀಲಿಸಲಾಗುತ್ತದೆಯಾದ್ದರಿಂದ, ಪಡೆದ ಮಾಹಿತಿಯು ಒಂದೇ ಆಗಿರುತ್ತದೆ. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಇ. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ ತನ್ನ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಪ್ರತಿರೂಪಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪ್ರಾದೇಶಿಕ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಮತ್ತು ಆಳದ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ. ಇದಲ್ಲದೆ, ಇ. ಇ. ಎಲ್. ಎಸ್. ಶೋಧಕವನ್ನು ಹೊಂದಿದ ಯಾವುದೇ ಟಿ. ಇ. ಎಂ. ನಲ್ಲಿ ಇ. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ. ಯನ್ನು ಅಳೆಯಬಹುದು, ಆದರೆ ಎಕ್ಸ್. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ. ಯನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಮೀಸಲಾದ ಸಿಂಕ್ರೋಟ್ರಾನ್ ಕಿರಣಗಳಲ್ಲಿ ಮಾತ್ರ ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅದರ ಮೂಲ ಅವತಾರದಲ್ಲಿ ಇ. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ. ಯ ಒಂದು ಅನನುಕೂಲವೆಂದರೆ, ಇ. ಎಂ. ಸಿ. ಡಿ. ಗೆ ಅಗತ್ಯವಿರುವ ಸರಿಯಾದ 90 ಡಿಗ್ರಿ ಹಂತದ ಬದಲಾವಣೆಯನ್ನು ನಿಖರವಾಗಿ ನೀಡುವ ದಪ್ಪ ಮತ್ತು ದೃಷ್ಟಿಕೋನವನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಸ್ಫಟಿಕದ ವಸ್ತುಗಳ ಅಗತ್ಯತೆ. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಹೊಸ ವಿಧಾನವು ಇತ್ತೀಚೆಗೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸುಳಿಯ ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಮೂಲ ಕಾರ್ಯವಿಧಾನದ ಜ್ಯಾಮಿತೀಯ ನಿರ್ಬಂಧಗಳಿಲ್ಲದೆ ಇಎಂಸಿಡಿಯನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಬಳಸಬಹುದು ಎಂದು ತೋರಿಸಿದೆ. ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಸರ್ಕ್ಯುಲರ್ ಡೈಕ್ರೋಯಿಸಂ ಫ್ಯಾರಡೆ ಎಫೆಕ್ಟ್ XMCD ರೆಫರೆನ್ಸ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯನ್ನು ಸಹ ನೋಡಿ.