Total absorption spectroscopy
ಒಟ್ಟು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯು ಒಂದು ಮಾಪನ ತಂತ್ರವಾಗಿದ್ದು, ಇದು ವಿಭಿನ್ನ ಪರಮಾಣು ಗಾಮಾ ಪರಿವರ್ತನೆಗಳಲ್ಲಿ ಹೊರಸೂಸುವ ಗಾಮಾ ವಿಕಿರಣವನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ, ಇದು ಬೀಟಾ ಕೊಳೆತ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯ ಮೂಲಕ ಅದರ ಅಸ್ಥಿರ ಪೋಷಕವು ಕೊಳೆತ ನಂತರ ಮಗಳು ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ನಲ್ಲಿ ನಡೆಯಬಹುದು. ಸ್ಥಿರತೆಯಿಂದ ದೂರವಿರುವ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ಗಳ ಸಂಪೂರ್ಣ ಕೊಳೆಯುವ ಶಕ್ತಿಯ ವಿಂಡೋದೊಳಗೆ ಬೀಟಾ ಫೀಡಿಂಗ್ ಮಾಪನಗಳಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದ ಬೀಟಾ ಕೊಳೆಯುವಿಕೆಯ ಅಧ್ಯಯನಗಳಿಗೆ ಈ ತಂತ್ರವನ್ನು ಬಳಸಬಹುದು. ಇದನ್ನು ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ ಸ್ಫಟಿಕದಿಂದ ಮಾಡಿದ "ಒಟ್ಟು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್" (ಟಿಎಎಸ್) ಎಂಬ ವಿಶೇಷ ರೀತಿಯ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನೊಂದಿಗೆ ಕಾರ್ಯಗತಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ಇದು ಅಳೆಯಬೇಕಾದ ಚಟುವಟಿಕೆಯನ್ನು ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಸುತ್ತುವರೆದಿದೆ, ಇದು ಸುಮಾರು 4π ನ ಘನ ಕೋನವನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿದೆ. ಅಲ್ಲದೆ, ಆದರ್ಶ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ, ಇದು 100% ಗೆ ಹತ್ತಿರವಿರುವ ಗರಿಷ್ಠ ದಕ್ಷತೆಯನ್ನು ಹೊಂದುವಷ್ಟು ದಪ್ಪವಾಗಿರಬೇಕು, ಈ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಅದರ ಒಟ್ಟು ದಕ್ಷತೆಯು 100% ಗೆ ತುಂಬಾ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿದೆ (ಇದನ್ನು "ಒಟ್ಟು" ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಎಂದು ಕರೆಯಲು ಇದು ಒಂದು ಕಾರಣವಾಗಿದೆ). ಅಂತಿಮವಾಗಿ, ಇದು ಬೇರೆ ಯಾವುದೇ ರೀತಿಯ ವಿಕಿರಣಕ್ಕೆ ಕುರುಡಾಗಿರಬೇಕು. ಅಧ್ಯಯನದ ಅಡಿಯಲ್ಲಿರುವ ಕೊಳೆತದಲ್ಲಿ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ ಗಾಮಾ ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ ವಸ್ತುಗಳಿಗೆ ಜೋಡಿಸಲಾದ ಫೋಟೊಮಲ್ಟಿಪ್ಲೈಯರ್ಗಳಿಂದ ಸಂಗ್ರಹಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ತಂತ್ರವು ಪಾಂಡೆಮೋನಿಯಂ ಪರಿಣಾಮದ ಸಮಸ್ಯೆಯನ್ನು ಪರಿಹರಿಸಬಹುದು. ಟಿ. ಎ. ಎಸ್. ನೊಂದಿಗೆ ಅಳೆಯುವಾಗ ತತ್ವಶಾಸ್ತ್ರದಲ್ಲಿ ಬದಲಾವಣೆಯಾಗುತ್ತದೆ. ಪ್ರತ್ಯೇಕ ಗಾಮಾ ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವ ಬದಲು (ಹೆಚ್ಚಿನ-ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಮಾಡುವಂತೆ), ಇದು ಕೊಳೆತ ಸ್ಥಿತಿಯಲ್ಲಿ ಹೊರಸೂಸುವ ಗಾಮಾ ಕ್ಯಾಸ್ಕೇಡ್ಗಳನ್ನು ಪತ್ತೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ. ನಂತರ, ಅಂತಿಮ ಶಕ್ತಿಯ ವರ್ಣಪಟಲವು ವಿಭಿನ್ನ ಪರಿವರ್ತನೆಗಳಿಂದ ಬರುವ ವಿಭಿನ್ನ ಶಕ್ತಿಯ ಶಿಖರಗಳ ಸಂಗ್ರಹವಾಗಿರುವುದಿಲ್ಲ (ಜರ್ಮೇನಿಯಂ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ ನಿರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು), ಆದರೆ ಶಕ್ತಿಯಲ್ಲಿ ನೆಲೆಗೊಂಡಿರುವ ಶಿಖರಗಳ ಸಂಗ್ರಹವಾಗಿದ್ದು, ಇದು ಪ್ರತಿ ಹಂತದಿಂದ ಹೊರಸೂಸುವ ಕ್ಯಾಸ್ಕೇಡ್ನ ಎಲ್ಲಾ ಗಾಮಾಗಳ ವಿಭಿನ್ನ ಶಕ್ತಿಗಳ ಮೊತ್ತವಾಗಿದೆ. ಇದರರ್ಥ ಟಿಎಎಸ್ನೊಂದಿಗೆ ಅಳೆಯುವ ಶಕ್ತಿಯ ವರ್ಣಪಟಲವು ವಾಸ್ತವದಲ್ಲಿ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ಗಳ ಮಟ್ಟಗಳ ವರ್ಣಪಟಲವಾಗಿರುತ್ತದೆ, ಅಲ್ಲಿ ಪ್ರತಿ ಶಿಖರವು ಕೊಳೆತ ಸ್ಥಿತಿಯಲ್ಲಿರುವ ಮಟ್ಟವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಈ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳ ದಕ್ಷತೆಯು 100% ಗೆ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿರುವುದರಿಂದ, ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳಿಂದ ನೋಡಲಾಗದ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪ್ರಚೋದನೆಯ ಮಟ್ಟಕ್ಕೆ ಫೀಡಿಂಗ್ ಅನ್ನು ನೋಡಲು ಸಾಧ್ಯವಿದೆ. ಇದು ಬೀಟಾ ಫೀಡಿಂಗ್ಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಮತ್ತು ಸಂಕೀರ್ಣ ಕೊಳೆಯುವ ಯೋಜನೆಗಳಿಗೆ ನಿಖರವಾದ ಬೀಟಾ ತೀವ್ರತೆ (ಐಬಿಎ) ವಿತರಣೆಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸಲು ಒಟ್ಟು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯನ್ನು ಅತ್ಯುತ್ತಮ ವಿಧಾನವನ್ನಾಗಿ ಮಾಡುತ್ತದೆ. ಆದರ್ಶ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ, ಅಳತೆ ಮಾಡಲಾದ ವರ್ಣಪಟಲವು ಬೀಟಾ ಫೀಡಿಂಗ್ (ಐಬಿಎ) ಗೆ ಅನುಪಾತದಲ್ಲಿರುತ್ತದೆ. ಆದರೆ ನಿಜವಾದ ಟಿಎಎಸ್ ಸೀಮಿತ ದಕ್ಷತೆ ಮತ್ತು ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ಅನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಮತ್ತು ಅಳತೆ ಮಾಡಿದ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಮ್ನಿಂದ ಐಬಿಎ ಅನ್ನು ಹೊರತೆಗೆಯಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ, ಇದು ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ. ಟಿಎಎಸ್ ದತ್ತಾಂಶದ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ ಸರಳವಲ್ಲಃ ಅಳತೆ ಮಾಡಲಾದ ದತ್ತಾಂಶದಿಂದ ಬಲವನ್ನು ಪಡೆಯಲು, ಡೀಕನ್ವಲ್ಯೂಷನ್ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ಅನ್ವಯಿಸಬೇಕು. ಟಿಎಎಸ್ ದತ್ತಾಂಶಕ್ಕಾಗಿ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ ವಿಧಾನ ಟಿಎಎಸ್ನೊಂದಿಗೆ ಅಳೆಯುವ ದತ್ತಾಂಶದ ಸಂಕೀರ್ಣ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ರೇಖೀಯ ಸಮಸ್ಯೆಯ ಪರಿಹಾರಕ್ಕೆ ಇಳಿಸಬಹುದುಃ ಡಿ = ರಿ ಇದು ಅಳತೆ ಮಾಡಿದ ದತ್ತಾಂಶವನ್ನು (ಡಿ) ಫೀಡಿಂಗ್ಗಳೊಂದಿಗೆ (ಐ) ಸಂಬಂಧಿಸಿದೆ, ಇದರಿಂದ ಬೀಟಾ ತೀವ್ರತೆಯ ವಿತರಣೆ ಐಬಿಟಾ ಪಡೆಯಬಹುದು. ಆರ್ ಎಂಬುದು ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಆಗಿದೆ (ಅಂದರೆ ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಮಟ್ಟವನ್ನು ಪೂರೈಸುವ ಕೊಳೆಯುವಿಕೆಯು ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಮ್ನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಬಿನ್ನಲ್ಲಿ ಎಣಿಕೆಯನ್ನು ನೀಡುವ ಸಂಭವನೀಯತೆ). ಆರ್ ಕಾರ್ಯವು ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಅನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ ಆದರೆ ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತಿರುವ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಮಟ್ಟದ ಯೋಜನೆಯನ್ನೂ ಸಹ ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ. ದತ್ತಾಂಶ d ಯಿಂದ i ಯ ಮೌಲ್ಯವನ್ನು ಹೊರತೆಗೆಯಲು ಸಮೀಕರಣವನ್ನು ತಲೆಕೆಳಗಾಗಿಸಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ (ಈ ಸಮೀಕರಣವನ್ನು "ವಿಲೋಮ ಸಮಸ್ಯೆ" ಎಂದೂ ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ). ದುರದೃಷ್ಟವಶಾತ್ ಇದನ್ನು ಸುಲಭವಾಗಿ ಮಾಡಲು ಸಾಧ್ಯವಿಲ್ಲ ಏಕೆಂದರೆ ಮಟ್ಟದ ಸಾಂದ್ರತೆಯು ಹೆಚ್ಚಿರುವಾಗ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪ್ರಚೋದನೆಯ ಶಕ್ತಿಗಳಿರುವಾಗ ಪಕ್ಕದ ಮಟ್ಟಗಳ ಆಹಾರಕ್ಕೆ ಇದೇ ರೀತಿಯ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆ ಇರುತ್ತದೆ. ಬೇರೆ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಹೇಳುವುದಾದರೆ, ಇದು "ಕಳಪೆ-ಭಂಗಿ" ಎಂದು ಕರೆಯಲ್ಪಡುವ ಸಮಸ್ಯೆಗಳಲ್ಲಿ ಒಂದಾಗಿದೆ, ಇದಕ್ಕಾಗಿ ಹಲವಾರು ನಿಯತಾಂಕಗಳು ಒಂದೇ ದತ್ತಾಂಶ ಗುಂಪನ್ನು ನಿಕಟವಾಗಿ ಪುನರುತ್ಪಾದಿಸಬಹುದು. ನಂತರ, i ಅನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲು, ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತಗಳು ಮತ್ತು ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಜ್ಯಾಮಿತಿಯ ನಿಖರವಾದ ಸಿಮ್ಯುಲೇಶನ್ ಅಗತ್ಯವಿರುವ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ಪಡೆಯಬೇಕು. ಬಳಸಿದ ಟಿಎಎಸ್ನ ದಕ್ಷತೆಯು ಹೆಚ್ಚಾದಂತೆ, ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತಗಳ ಮೇಲಿನ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯ ಅವಲಂಬನೆಯು ಕಡಿಮೆಯಾಗುತ್ತದೆ. ನಂತರ ತೋರಿಕೆಯ ಊಹೆಯಿಂದ ಕೈಯಿಂದ ಅಜ್ಞಾತ ಕವಲೊಡೆಯುವ ಅನುಪಾತಗಳನ್ನು ಪರಿಚಯಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಿದೆ. ಅಂಕಿಅಂಶಗಳ ಮಾದರಿಯ ಮೂಲಕ ಉತ್ತಮ ಊಹೆಯನ್ನು ಲೆಕ್ಕ ಹಾಕಬಹುದು. ನಂತರ ಫೀಡಿಂಗ್ಗಳನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವ ಕಾರ್ಯವಿಧಾನವು ಪುನರಾವರ್ತನೆಯಾಗಿದೆಃ ವಿಲೋಮ ಸಮಸ್ಯೆಯನ್ನು ಪರಿಹರಿಸಲು ನಿರೀಕ್ಷೆ-ಗರಿಷ್ಠಗೊಳಿಸುವ ಅಲ್ಗಾರಿದಮ್ ಅನ್ನು ಬಳಸುವುದು, ನಂತರ ಫೀಡಿಂಗ್ಗಳನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವ ಕಾರ್ಯವಿಧಾನವು ಪುನರಾವರ್ತನೆಯಾಗಿದೆಃ ವಿಲೋಮ ಸಮಸ್ಯೆಯನ್ನು ಪರಿಹರಿಸಲು ನಿರೀಕ್ಷೆ-ಗರಿಷ್ಠಗೊಳಿಸುವ ಅಲ್ಗಾರಿದಮ್ ಅನ್ನು ಬಳಸುವುದು, ಫೀಡಿಂಗ್ಗಳನ್ನು ಹೊರತೆಗೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ; ಅವು ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಡೇಟಾವನ್ನು ಪುನರುತ್ಪಾದಿಸದಿದ್ದರೆ, ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತಗಳ ಆರಂಭಿಕ ಊಹೆ ತಪ್ಪಾಗಿದೆ ಮತ್ತು ಅದನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸಬೇಕಾಗಿದೆ (ಸಹಜವಾಗಿ, ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ಇತರ ನಿಯತಾಂಕಗಳೊಂದಿಗೆ ಆಡಲು ಸಾಧ್ಯವಿದೆ). ಈ ಕಾರ್ಯವಿಧಾನವನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಸಂಖ್ಯೆಯ ಹಂತಗಳಲ್ಲಿ ಪುನರಾವರ್ತಿಸಿ, ದತ್ತಾಂಶವನ್ನು ಅಂತಿಮವಾಗಿ ಪುನರುತ್ಪಾದಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತದ ಲೆಕ್ಕಾಚಾರ ಈ ಸಮಸ್ಯೆಯನ್ನು ನಿಭಾಯಿಸಲು ಉತ್ತಮ ಮಾರ್ಗವೆಂದರೆ ಕಡಿಮೆ ಪ್ರಚೋದನೆಯ ಶಕ್ತಿಗಳಲ್ಲಿ ಪ್ರತ್ಯೇಕ ಮಟ್ಟಗಳ ಗುಂಪನ್ನು ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಗಳಲ್ಲಿ ಬಿನ್ಡ್ ಮಟ್ಟಗಳ ಗುಂಪನ್ನು ಇಟ್ಟುಕೊಳ್ಳುವುದು. ಕಡಿಮೆ ಶಕ್ತಿಯ ಸೆಟ್ ಅನ್ನು ತಿಳಿದಿರಬೇಕು ಮತ್ತು ಡೇಟಾಬೇಸ್ಗಳಿಂದ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳಬಹುದು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ, [ಇಎನ್ಎಸ್ಡಿಎಫ್] ಡೇಟಾಬೇಸ್, ಇದು ಈಗಾಗಲೇ ಹೆಚ್ಚಿನ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ತಂತ್ರದಿಂದ ಅಳೆಯಲಾದ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ). ಹೆಚ್ಚಿನ ಶಕ್ತಿಯ ಸೆಟ್ ತಿಳಿದಿಲ್ಲ ಮತ್ತು ತಿಳಿದಿರುವ ಭಾಗದೊಂದಿಗೆ ಅತಿಕ್ರಮಿಸುವುದಿಲ್ಲ. ಈ ಲೆಕ್ಕಾಚಾರದ ಕೊನೆಯಲ್ಲಿ, ಕ್ಯೂ ಮೌಲ್ಯ ವಿಂಡೋದೊಳಗಿನ ಮಟ್ಟಗಳ ಸಂಪೂರ್ಣ ಪ್ರದೇಶವನ್ನು (ತಿಳಿದಿರುವ ಮತ್ತು ತಿಳಿದಿಲ್ಲದ) ಬಿನ್ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ಈ ಹಂತದಲ್ಲಿ ತಿಳಿದಿರುವ ಮಟ್ಟಗಳನ್ನು ಸಂಪರ್ಕಿಸುವ ಪರಿವರ್ತನೆಗಳಿಗೆ ಆಂತರಿಕ ಪರಿವರ್ತನೆ ಗುಣಾಂಕಗಳನ್ನು ತಿಳಿದುಕೊಳ್ಳುವುದು ಮುಖ್ಯವಾಗಿದೆ. ಆಂತರಿಕ ಪರಿವರ್ತನೆ ಗುಣಾಂಕವನ್ನು γ ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆಯ ಮೂಲಕ ಇ-ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆಯ ಮೂಲಕ ಡಿ-ಎಕ್ಸೈಟೇಶನ್ಗಳ ಸಂಖ್ಯೆ ಎಂದು ವ್ಯಾಖ್ಯಾನಿಸಲಾಗಿದೆ. ಆಂತರಿಕ ಪರಿವರ್ತನೆ ಸಂಭವಿಸಿದರೆ, ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ನ ಇಎಂ ಮಲ್ಟಿಪೋಲ್ ಕ್ಷೇತ್ರಗಳು ಫೋಟಾನ್ನ ಹೊರಸೂಸುವಿಕೆಗೆ ಕಾರಣವಾಗುವುದಿಲ್ಲ, ಬದಲಿಗೆ, ಕ್ಷೇತ್ರಗಳು ಪರಮಾಣು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳೊಂದಿಗೆ ಸಂವಹನ ನಡೆಸುತ್ತವೆ ಮತ್ತು ಪರಮಾಣುವಿನಿಂದ ಹೊರಸೂಸುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳಲ್ಲಿ ಒಂದನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತವೆ. ಬೀಟಾ ಕೊಳೆಯುವಿಕೆಯ ನಂತರ ಹೊರಸೂಸುವ ಗಾಮಾ ತಪ್ಪುತ್ತದೆ, ಮತ್ತು ಅದಕ್ಕೆ ಅನುಗುಣವಾಗಿ γ ತೀವ್ರತೆಯು ಕಡಿಮೆಯಾಗುತ್ತದೆಃ IT = Iγ + Ie − = Iγ (1 + αe), ಆದ್ದರಿಂದ ಈ ವಿದ್ಯಮಾನವನ್ನು ಲೆಕ್ಕಾಚಾರದಲ್ಲಿ ಗಣನೆಗೆ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಅಲ್ಲದೆ, ಕ್ಷ-ಕಿರಣಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಪರಿವರ್ತನೆ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಬರುವ ಕಿರಣಗಳಿಂದ ಕಲುಷಿತಗೊಳ್ಳುತ್ತವೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೆರೆಹಿಡಿಯುವ ಕೊಳೆತದಲ್ಲಿ ಇದು ಮುಖ್ಯವಾಗಿದೆ, ಏಕೆಂದರೆ ಆಂತರಿಕ ಪರಿವರ್ತನೆಯು ಪ್ರಬಲವಾಗಿದ್ದರೆ ಇದು ಯಾವುದೇ ಕ್ಷ-ಕಿರಣ ಗೇಟೆಡ್ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಾದ ಫಲಿತಾಂಶಗಳ ಮೇಲೆ ಪರಿಣಾಮ ಬೀರಬಹುದು. ಕಡಿಮೆ ಶಕ್ತಿಗಳು ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ಬಹುಧ್ರುವಗಳಿಗೆ ಇದರ ಸಂಭವನೀಯತೆಯು ಹೆಚ್ಚಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಸಂಪೂರ್ಣ ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತದ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಅನ್ನು ಪಡೆಯುವ ಒಂದು ಮಾರ್ಗವೆಂದರೆ ಸ್ಟ್ಯಾಟಿಸ್ಟಿಕಲ್ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯರ್ ಮಾಡೆಲ್ ಅನ್ನು ಬಳಸುವುದು. ಈ ಮಾದರಿಯು ಸರಾಸರಿ ಮಟ್ಟದ ಸಾಂದ್ರತೆಗಳು ಮತ್ತು ಸರಾಸರಿ ಗಾಮಾ ಶಕ್ತಿ ಕಾರ್ಯಗಳಿಂದ ಬಿನ್ಡ್ ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತದ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಅನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತದೆ. ಅಜ್ಞಾತ ಭಾಗಕ್ಕೆ, ಸರಾಸರಿ ಶಾಖೆಯ ಅನುಪಾತಗಳನ್ನು ಲೆಕ್ಕ ಹಾಕಬಹುದು, ಇದಕ್ಕಾಗಿ ಹಲವಾರು ನಿಯತಾಂಕಗಳನ್ನು ಆಯ್ಕೆ ಮಾಡಬಹುದು, ಆದರೆ ತಿಳಿದಿರುವ ಭಾಗಕ್ಕೆ ಡೇಟಾಬೇಸ್ಗಳಲ್ಲಿನ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಟಿಎಎಸ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯನ್ನು ನಿಖರವಾಗಿ ಲೆಕ್ಕಹಾಕಲು ಅಗತ್ಯವಿರುವ ಎಲ್ಲಾ ಶಕ್ತಿಗಳನ್ನು ಹೊರಸೂಸುವ ಗಾಮಾ ಮೂಲಗಳನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಿಲ್ಲ. ಈ ಕಾರಣಕ್ಕಾಗಿ, ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಯ ಮಾಂಟೆಕಾರ್ಲೋ ಸಿಮ್ಯುಲೇಶನ್ ಅನ್ನು ಮಾಡುವುದು ಉತ್ತಮ. ಈ ಅನುಕರಣೆಯು ವಿಶ್ವಾಸಾರ್ಹವಾಗಿರಲು, ಕೊಳೆತ ಸ್ಥಿತಿಯಲ್ಲಿ ಹೊರಸೂಸುವ ಎಲ್ಲಾ ಕಣಗಳ ಪರಸ್ಪರ ಕ್ರಿಯೆಗಳು (γ, e−/e +, ಆಗರ್ e, x ಕಿರಣಗಳು, ಇತ್ಯಾದಿ). ನಿಖರವಾಗಿ ಮಾದರಿಯಾಗಿರಬೇಕು, ಮತ್ತು ಈ ಕಣಗಳ ಮಾರ್ಗದಲ್ಲಿ ರೇಖಾಗಣಿತ ಮತ್ತು ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಚೆನ್ನಾಗಿ ಪುನರುತ್ಪಾದಿಸಬೇಕು. ಅಲ್ಲದೆ, ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ನ ಬೆಳಕಿನ ಉತ್ಪಾದನೆಯನ್ನು ಸೇರಿಸಬೇಕಾಗಿದೆ. ಈ ಅನುಕರಣೆಯನ್ನು ನಿರ್ವಹಿಸುವ ವಿಧಾನವನ್ನು ಡಿ. ಕ್ಯಾನೋ-ಒಟ್ ಮತ್ತು ಇತರರು ಕಾಗದದಲ್ಲಿ ವಿವರವಾಗಿ ವಿವರಿಸಿದ್ದಾರೆ. GEANT3 ಮತ್ತು GEANT4 ಈ ರೀತಿಯ ಸಿಮ್ಯುಲೇಶನ್ಗಳಿಗೆ ಸೂಕ್ತವಾಗಿವೆ. ಟಿಎಎಸ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಸಿಂಟಿಲೇಟರ್ ವಸ್ತುವು ಬೆಳಕಿನ ಉತ್ಪಾದನೆಯಲ್ಲಿ ಅನುಪಾತರಹಿತತೆಯಿಂದ ಬಳಲುತ್ತಿದ್ದರೆ, ಕ್ಯಾಸ್ಕೇಡ್ನಿಂದ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ ಶಿಖರಗಳು ಬಹುಸಂಖ್ಯೆಯಲ್ಲಿನ ಪ್ರತಿ ಹೆಚ್ಚಳಕ್ಕೂ ಮತ್ತಷ್ಟು ಸ್ಥಳಾಂತರಗೊಳ್ಳುತ್ತವೆ ಮತ್ತು ಈ ಶಿಖರಗಳ ಅಗಲವು ಒಂದೇ ಶಕ್ತಿಯೊಂದಿಗೆ ಒಂದೇ ಶಿಖರಗಳ ಅಗಲಕ್ಕಿಂತ ಭಿನ್ನವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಹೈಪರ್ಬೋಲಿಕ್ ಸಿಂಟಿಲೇಷನ್ ದಕ್ಷತೆಯ ಮೂಲಕ ಸಿಮ್ಯುಲೇಶನ್ನಲ್ಲಿ ಪರಿಚಯಿಸಬಹುದು. ಬೆಳಕಿನ ಉತ್ಪಾದನೆಯ ಅನುಕರಣೆಯು ಟಿಎಎಸ್ ವರ್ಣಪಟಲದ ಶಿಖರಗಳನ್ನು ವಿಸ್ತರಿಸುತ್ತದೆ; ಆದಾಗ್ಯೂ, ಇದು ಇನ್ನೂ ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಶಿಖರಗಳ ನೈಜ ಅಗಲವನ್ನು ಪುನರುತ್ಪಾದಿಸುವುದಿಲ್ಲ. ಮಾಪನದ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಶಕ್ತಿ ಸಂಗ್ರಹಣೆಯ ಮೇಲೆ ಪರಿಣಾಮ ಬೀರುವ ಹೆಚ್ಚುವರಿ ಸಂಖ್ಯಾಶಾಸ್ತ್ರೀಯ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಗಳಿವೆ ಮತ್ತು ಅವುಗಳನ್ನು ಮಾಂಟೆಕಾರ್ಲೋದಲ್ಲಿ ಸೇರಿಸಲಾಗಿಲ್ಲ. ಇದರ ಪರಿಣಾಮವು ಟಿಎಎಸ್ ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಶಿಖರಗಳ ಹೆಚ್ಚುವರಿ ವಿಸ್ತರಣೆಯಾಗಿದೆ. ಮಾಂಟೆಕಾರ್ಲೋದಿಂದ ಪುನರುತ್ಪಾದಿಸಲಾದ ಶಿಖರಗಳು ಸರಿಯಾದ ಅಗಲವನ್ನು ಹೊಂದಿಲ್ಲದ ಕಾರಣ, ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ವಾದ್ಯಗಳ ರೆಸಲ್ಯೂಶನ್ ವಿತರಣೆಯೊಂದಿಗೆ ಕನ್ವಲ್ಯೂಷನ್ ಅನ್ನು ಸಿಮ್ಯುಲೇಟೆಡ್ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಗೆ ಅನ್ವಯಿಸಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಅಂತಿಮವಾಗಿ, ವಿಶ್ಲೇಷಿಸಬೇಕಾದ ದತ್ತಾಂಶವು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೆರೆಹಿಡಿಯುವ ಘಟನೆಗಳಿಂದ ಬಂದಿದ್ದರೆ, ಹಲವಾರು ಶಕ್ತಿಗಳ ಪ್ರತ್ಯೇಕ ಮೊನೊಎನರ್ಜೆಟಿಕ್ γ ಕಿರಣಗಳಿಗೆ ಸಿಮ್ಯುಲೇಟೆಡ್ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಸಿಮ್ಯುಲೇಟೆಡ್ ಗಾಮಾ ರೆಸ್ಪಾನ್ಸ್ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಅನ್ನು ನಿರ್ಮಿಸಬೇಕು. ಈ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಮೇಲಿನ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆ ಕಾರ್ಯದ ಅವಲಂಬನೆಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿದೆ. ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತಿರುವ ಮಟ್ಟದ ಯೋಜನೆಯ ಮೇಲಿನ ಅವಲಂಬನೆಯನ್ನು ಸಹ ಸೇರಿಸಲು, ಮೇಲೆ ತಿಳಿಸಲಾದ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಅನ್ನು ಈ ಹಿಂದೆ ಲೆಕ್ಕ ಹಾಕಿದ ಬ್ರಾಂಚಿಂಗ್ ಅನುಪಾತ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ನೊಂದಿಗೆ ಸುರುಳಿಯಾಗಿಸಬೇಕು. ಈ ರೀತಿಯಾಗಿ, ಅಂತಿಮ ಜಾಗತಿಕ ಪ್ರತಿಕ್ರಿಯೆ ಆರ್ ಅನ್ನು ಪಡೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸಹಾಯಕ ಶೋಧಕಗಳು ಟಿಎಎಸ್ ತಂತ್ರವನ್ನು ಬಳಸುವಾಗ ನೆನಪಿನಲ್ಲಿಟ್ಟುಕೊಳ್ಳಬೇಕಾದ ಒಂದು ಪ್ರಮುಖ ವಿಷಯವೆಂದರೆ, ಸಣ್ಣ ಅರ್ಧ-ಜೀವಿತಾವಧಿಯ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ಗಳನ್ನು ಅಳೆಯಿದರೆ, ಶಕ್ತಿಯ ವರ್ಣಪಟಲವು ಕೊಳೆಯುವ ಸರಪಳಿಯಲ್ಲಿ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ ಡಾಟರ್ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ಗಳ ಗಾಮಾ ಕ್ಯಾಸ್ಕೇಡ್ಗಳಿಂದ ಕಲುಷಿತಗೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಟಿಎಎಸ್ ಶೋಧಕಗಳು ಎಕ್ಸ್-ಕಿರಣಗಳು, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ಗಳು ಅಥವಾ ಪಾಸಿಟ್ರಾನ್ಗಳಂತಹ ದ್ವಿತೀಯಕ ವಿಕಿರಣವನ್ನು ಅಳೆಯಲು ಪೂರಕ ಶೋಧಕಗಳನ್ನು ಅವುಗಳೊಳಗೆ ಇರಿಸುವ ಸಾಧ್ಯತೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಈ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಕೊಳೆಯುವಿಕೆಯ ಇತರ ಘಟಕಗಳನ್ನು ಟ್ಯಾಗ್ ಮಾಡಲು ಸಾಧ್ಯವಿದೆ, ಇದು ಎಲ್ಲಾ ವಿಭಿನ್ನ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ಗಳಿಂದ (ಐಸೋಬಾರಿಕ್ ಸೆಪರೇಷನ್) ಬರುವ ಕೊಡುಗೆಗಳನ್ನು ಪ್ರತ್ಯೇಕಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. 1970ರಲ್ಲಿ, 15 ಸೆಂ. ಮೀ. ವ್ಯಾಸ ಮತ್ತು 10 ಸೆಂ. ಮೀ. ಉದ್ದದ ಎರಡು ಸಿಲಿಂಡರಾಕಾರದ ಎನ್. ಎ. ಐ. ಶೋಧಕಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುವ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಮೀಟರ್ ಅನ್ನು ಐ. ಎಸ್. ಓ. ಎಲ್. ಡಿ. ಇ. ಯಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಯಿತು. ಜಿ. ಎಸ್. ಐ. ನಲ್ಲಿ ಟಿ. ಎ. ಎಸ್. ಜಿ. ಎಸ್. ಐ. ನಲ್ಲಿ ಸ್ಥಾಪಿಸಲಾದ ಟಿ. ಎ. ಎಸ್. ಅಳತೆ ಕೇಂದ್ರವು ಟೇಪ್ ಸಾರಿಗೆ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿತ್ತು, ಇದು ವಿಭಜಕದಿಂದ ಹೊರಬರುವ ಅಯಾನುಗಳ ಸಂಗ್ರಹಕ್ಕೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಟ್ಟಿತು (ಅವುಗಳನ್ನು ಟೇಪ್ನಲ್ಲಿ ಅಳವಡಿಸಲಾಯಿತು), ಮತ್ತು ಆ ಅಯಾನುಗಳನ್ನು ಸಂಗ್ರಹ ಸ್ಥಾನದಿಂದ ಟಿ. ಎ. ಎಸ್. ನ ಮಧ್ಯಭಾಗಕ್ಕೆ ಅಳತೆಗಾಗಿ (ಟೇಪ್ನ ಚಲನೆಯ ಮೂಲಕ) ಸಾಗಿಸಲು ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಟ್ಟಿತು. ಈ ಸೌಲಭ್ಯದಲ್ಲಿರುವ ಟಿ. ಎ. ಎಸ್. ಅನ್ನು ಸಮಮಿತಿ ಅಕ್ಷದ ದಿಕ್ಕಿನಲ್ಲಿ ಕೇಂದ್ರೀಕೃತ ಸಿಲಿಂಡರಾಕಾರದ ರಂಧ್ರದೊಂದಿಗೆ φ = h = 35.6 ಸೆಂ. ಮೀ. ನ ಸಿಲಿಂಡರಾಕಾರದ ಎನ್. ಎ. ಐ. ಸ್ಫಟಿಕದಿಂದ ಮಾಡಲಾಗಿದೆ. ಈ ರಂಧ್ರವನ್ನು ಪ್ಲಗ್ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನಿಂದ (4.7x15.0 ಸೆಂ. ಮೀ.) ತುಂಬಿಸಲಾಗುತ್ತಿತ್ತು, ಇದು ಸಹಾಯಕ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ಗಳು ಮತ್ತು ಟೇಪ್ಗಾಗಿ ಎರಡು ರೋಲರ್ಗಳನ್ನು ಇರಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಟ್ಟಿತು. ಲುಕ್ರೆಸಿಯಾ ಅಳತೆ ಕೇಂದ್ರ ಈ ಅಳತೆ ಕೇಂದ್ರವು, ಐ. ಎಸ್. ಓ. ಎಲ್. ಡಿ. ಇ. ಕಿರಣದ ರೇಖೆಯ ಕೊನೆಯಲ್ಲಿ ಸ್ಥಾಪಿಸಲಾಗಿದ್ದು, ಟಿ. ಎ. ಎಸ್. ಮತ್ತು ಟೇಪ್ ಕೇಂದ್ರವನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿದೆ. ಈ ನಿಲ್ದಾಣದಲ್ಲಿ, ಟೇಪ್ ಅನ್ನು ಹಿಡಿದಿಡಲು ಕಿರಣದ ಪೈಪ್ ಅನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಕಿರಣವನ್ನು ಟಿಎಎಸ್ನ ಹೊರಗಿನ ಟೇಪ್ನಲ್ಲಿ ಅಳವಡಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ, ನಂತರ ಅದನ್ನು ಅಳತೆಗಾಗಿ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಮಧ್ಯಭಾಗಕ್ಕೆ ಸಾಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ನಿಲ್ದಾಣದಲ್ಲಿ ರೋಲರುಗಳ ಸ್ಥಾನವನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸುವ ಮೂಲಕ ಕಿರಣವನ್ನು ನೇರವಾಗಿ ಟಿಎಎಸ್ನ ಮಧ್ಯಭಾಗದಲ್ಲಿ ಅಳವಡಿಸಲು ಸಹ ಸಾಧ್ಯವಿದೆ. ನಂತರದ ಕಾರ್ಯವಿಧಾನವು ಬಹಳ ಕಡಿಮೆ ಅರ್ಧ-ಜೀವಿತಾವಧಿಯೊಂದಿಗೆ ಹೆಚ್ಚು ವಿಲಕ್ಷಣ ನ್ಯೂಕ್ಲಿಯಸ್ಗಳ ಮಾಪನವನ್ನು ಅನುಮತಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ನಿಲ್ದಾಣದಲ್ಲಿ ಲುಕ್ರೇಸಿಯಾ ಟಿಎಎಸ್ ಆಗಿದೆ. ಇದು φ = h = 38 ಸೆಂ. ಮೀ. (ನಮ್ಮ ಜ್ಞಾನಕ್ಕೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ ಇದುವರೆಗೆ ನಿರ್ಮಿಸಲಾದ ಅತಿದೊಡ್ಡ) ಸಿಲಿಂಡರಾಕಾರದ ಆಕಾರದ ಒಂದು ತುಂಡು NaI (Tl) ವಸ್ತುಗಳಿಂದ ಮಾಡಲ್ಪಟ್ಟಿದೆ. ಇದು 7,5 ಸೆಂಟಿಮೀಟರ್ ವ್ಯಾಸದ ಸಿಲಿಂಡರಾಕಾರದ ಕುಹರವನ್ನು ಹೊಂದಿದ್ದು ಅದು ಅದರ ಸಮ್ಮಿತಿ ಅಕ್ಷಕ್ಕೆ ಲಂಬವಾಗಿ ಹಾದುಹೋಗುತ್ತದೆ. ಈ ರಂಧ್ರದ ಉದ್ದೇಶವು ಕಿರಣದ ಪೈಪ್ ಅನ್ನು ಅಳತೆಯ ಸ್ಥಾನವನ್ನು ತಲುಪಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುವುದರಿಂದ ಟೇಪ್ ಅನ್ನು ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ನ ಮಧ್ಯಭಾಗದಲ್ಲಿ ಇರಿಸಬಹುದು. ಇದು ಟೇಪ್ನಲ್ಲಿ ಅಳವಡಿಸಲಾದ ಚಟುವಟಿಕೆಯಿಂದ ಹೊರಸೂಸುವ ಇತರ ರೀತಿಯ ವಿಕಿರಣವನ್ನು ಅಳೆಯಲು (x ಕಿರಣಗಳು, e−/e +, ಇತ್ಯಾದಿ) ವಿರುದ್ಧ ಭಾಗದಲ್ಲಿ ಪೂರಕ ಶೋಧಕಗಳನ್ನು ಇರಿಸಲು ಸಹ ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ಆದಾಗ್ಯೂ, ಈ ರಂಧ್ರದ ಉಪಸ್ಥಿತಿಯು ಜಿಎಸ್ಐ ಟಿಎಎಸ್ಗೆ ಹೋಲಿಸಿದರೆ ಈ ಡಿಟೆಕ್ಟರ್ ಅನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಪರಿಣಾಮಕಾರಿಯಾಗಿ ಮಾಡುತ್ತದೆ (ಲುಕ್ರೆಸಿಯಾದ ಒಟ್ಟು ದಕ್ಷತೆಯು 300 ರಿಂದ 3000 ಕೆವಿ ವರೆಗೆ ಸುಮಾರು 90 ಪ್ರತಿಶತ). ಲುಕ್ರೆಸಿಯಾದ ಬೆಳಕನ್ನು 8 ದ್ಯುತಿ ಗುಣಕಗಳು ಸಂಗ್ರಹಿಸುತ್ತವೆ. ಅಳತೆಗಳ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಲ್ಯೂಕ್ರೆಸಿಯಾವನ್ನು ಎರಡನೇ ಮತ್ತು ಉನ್ನತ ಕ್ರಮಾಂಕದ ರಾಶಿಯ ಕೊಡುಗೆಗಳನ್ನು ತಪ್ಪಿಸಲು 10 ಕಿಲೋಹರ್ಟ್ಝ್ ಗಿಂತ ದೊಡ್ಡದಲ್ಲದ ಒಟ್ಟು ಎಣಿಕೆಯ ದರದಲ್ಲಿ ಅಳೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಟಿಎಎಸ್ ಸುತ್ತಲೂ ಪಾಲಿಥಿಲೀನ್, ಸೀಸ, ತಾಮ್ರ ಮತ್ತು ಅಲ್ಯೂಮಿನಿಯಂ ಎಂಬ ನಾಲ್ಕು ಪದರಗಳಿಂದ ಮಾಡಿದ 19.2 ಸೆಂಟಿಮೀಟರ್ ದಪ್ಪದ ರಕ್ಷಾಕವಚವಿದೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ಬಾಹ್ಯ ವಿಕಿರಣವನ್ನು (ನ್ಯೂಟ್ರಾನ್ಗಳು, ಕಾಸ್ಮಿಕ್ ಕಿರಣಗಳು ಮತ್ತು ಕೋಣೆಯ ಹಿನ್ನೆಲೆ) ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವುದು ಇದರ ಉದ್ದೇಶವಾಗಿದೆ. ಪಾಂಡೆಮೋನಿಯಂ ಪರಿಣಾಮ ಸಿಂಟಿಲೇಷನ್ ಕೌಂಟರ್ ಉಲ್ಲೇಖಗಳು ಬಾಹ್ಯ ಕೊಂಡಿಗಳು ಆನ್-ಲೈನ್ ಐಸೊಟೋಪ್ ಮಾಸ್ ಸೆಪರೇಟರ್ ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಸಭಾಂಗಣವನ್ನು ಸಹ ನೋಡಿ, ಅಲ್ಲಿ ಲುಕ್ರೆಸಿಯಾವನ್ನು ಸ್ಥಾಪಿಸಲಾಗಿದೆ. ಒಟ್ಟು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಮಾಪನಗಳಿಗೆ ಮೀಸಲಾಗಿರುವ ಗಾಮಾ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಗುಂಪು. ಕಣ ಶೋಧಕಗಳು ಪರಮಾಣು ಭೌತಶಾಸ್ತ್ರ ವಿಕಿರಣಶೀಲತೆ ಪ್ರಾಯೋಗಿಕ ಭೌತಶಾಸ್ತ್ರ